Rasterkraftmikroskope (AFM) - Tosca-Serie - LABO.de
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Tosca-Serie Rasterkraftmikroskope (AFM)
Unkompliziert Jedes
Tosca
und effizient beinhaltet
Anton Paar Rasterkraftmikroskope (AFM) der Tosca-Serie sind
die perfekte Kombination aus hochmoderner Technologie
3 Jahre
Garantie
3
und zeitsparender Effizienz und somit die ideale Lösung für Gutscheine für
Nanotechnologie-Analysen in Wissenschaft und Industrie. Anwender-
schulungen
Die Tosca-Serie steht für leistungsstarke und hochgenaue, aber
dennoch zeiteffiziente Oberflächenanalyse im Nanometerbereich.
Sie bietet innovative Verbesserungen bei den verschiedensten
Gutscheine für detaillierte
Funktionen, ist hocheffizient und ist insgesamt einfach zu bedienen. Messberichte für bis zu
10
Für die Instrumente sind nur minimale Schulungen erforderlich. So
können Sie sich schnell wieder auf die eigentlichen Analyseaufgaben
konzentrieren.
Tosca 200 und Tosca 400
Automatisierungsfunktionen, leistungsstarke Software und die
umfangreiche Erfahrung von Anton Paar bei Entwicklung, Produktion
Wählen Sie zwischen zwei
verschiedenen Modellen: Tosca 400, Proben
und Vertrieb von präzisen Analysegeräten für die Industrie machen
das Premiummodell unter den AFMs
für große Proben, oder Tosca 200 Ihrer Wahl
diese AFMs der Spitzenklasse zu etwas Besonderem. für mittelgroße Proben und kleinere
Budgets. Beide bieten dieselbe
Performance, Flexibilität und Qualität.
Tosca. AFM der Spitzenklasse.
Innovative Funktionen für höchste
Effizienz und Präzision: Schritt für Schritt
① Schnelles und sicheres Tauschen von ③ Der einfachste Annäherungsprozess auf ④ Probennavigation mit einem Klick ⑤ Automatisierte Batch-Messung
Cantilevern dem AFM-Markt einzelner und mehrerer Proben
Die Probenübersicht bietet einen Überblick über den
Mit dem einzigartigen Probemaster können Sie Beim Annähern kommt der Cantilever in Kontakt gesamten Probentisch (auch mit mehreren Proben). Mehrere Proben lassen sich in nur einem Schritt
den Cantilever in nur wenigen Sekunden in den mit der Probenoberfläche. Dies ist einer der Mit einem einzigen Mausklick auf die gewünschte bequem am Probenträger außerhalb des Geräts
AFM-Kopf einsetzen. Das verhindert ein Beschädigen komplexesten Vorgänge beim Betrieb eines Position im Übersichtsbild navigiert das Gerät anbringen. Die magnetische Probenträgerverriegelung
des Cantilevers beim Einsetzen und garantiert die AFM. Tosca löst dieses Problem mit einer den Probentisch zum gewählten Bereich. Durch garantiert eine stabile Positionierung der Proben.
korrekte Positionierung des Cantilevers. Seitenansichtkamera. Diese verfolgt die exakte die Mikronavigationsfunktion müssen Sie nur auf Mit der Batch-Messfunktion der Tosca-Serie können
Position des Cantilevers in Bezug auf die Oberfläche, die gewünschte Position im Bild des integrierten unterschiedliche Punkte auf einer oder mehreren
unterstützt durch die benutzerfreundliche Software. Videomikroskops klicken, um dorthin zu navigieren. Proben automatische gemessen werden. Außerdem
Dies wird durch die Zoom-Funktion noch zusätzlich können vordefinierte Batch-Muster geladen und
unterstützt. gespeichert werden.
② Automatische Laserausrichtung
Die Tosca-Serie bietet eine vollautomatische
Laserausrichtfunktion: Wenn der Cantilever in
der Aktuatoreinheit geladen ist, führt das Gerät ⑥ Präzise Messungen – minimale Out-of-
die Laserausrichtung nach nur zwei Klicks in der Plane-Bewegungen
Steuersoftware automatisch aus.
Durch die entkoppelte XY- und Z-Scanner-
Architektur befindet sich der XY-Scanner unter
der Probe während der Z-Scanner im Gerätekopf
liegt. Das Gerätedesign führt zu einer geringen
Störung zwischen den Scannern und geringer
Out-of-Plane-Bewegung. Vor allem der letzte Punkt
ist eine bekannte Schwachstelle konventioneller
AFM-Systeme, die mit Tubescanner arbeiten, und
resultiert in der typischen Hintergrundkrümmung
(„Bogen“). Diese Schwachstelle wird durch das
spezielle Design der Tosca-Geräte behoben.
⑦ Schnelle Messergebnisse
Der hohe Automatisierungsgrad und die Workflow-
orientierte Steuersoftware der Tosca-AFMs sorgen für
schnelle Messergebnisse. Besonders die elektrischen
Modi bieten intelligente Automatisierungsfunktionen
wie einen integrierten virtuellen Messstandard
und automatische Phasenoptimierung für KPFM,
unterschiedlich einstellbare Strommessbereiche und
einen strombegrenzten Modus für C-AFM, um den
Stromfluss durch die Probe zu limitieren. So haben
Sie mit Tosca-Geräten mehr Zeit für Ihre eigentlichen
Forschungsaufgaben.
Leistungsstarke Steuer- und Analysesoftware
Jedes Tosca-Gerät ist mit den Programmen Tosca Control und Tosca Analysis
sowie einem PC und einem 29-Zoll-Breitbildmonitor ausgestattet.
Tosca Control, die Workflow-orientierte Steuersoftware, leitet Sie durch den Messablauf.
Der Messvorgang gestaltet sich dadurch effizienter und leichter. Alle Messergebnisse
werden für die sofortige oder spätere Analyse mit Tosca Analysis gespeichert.
Dabei handelt es sich um eine leistungsstarke Software für Oberflächenbildgebung,
Analyse und Metrologie.
Tosca Control führt Sie zu Ihren Ergebnissen Tosca Analysis bietet unbegrenzte Auswertungsoptionen
- Schritt für Schritt durch den Messvorgang - Einfache Fernsteuerung - Angepasste Workflow-Vorlagen und - Einfache Korrektur von Messanomalien und
standardisierte Berichte Artefakten
- Intuitiv und selbsterklärend - Hoher Grad an Automatisierung
- Volle metrologische Rückführbarkeit - Intelligente Filter für höchste Bildqualität
- Live-Videomikroskopbild mit Zoom-Funktion - Variable Einstellungsmöglichkeiten
zum schnellen Erkennen von Merkmalen - Vielzahl an Analysemöglichkeiten für - Schnelle, einfache Visualisierung und Analyse
- Kostenlose Softwareaktualisierungen und Nano-Oberflächengeometrien und Rauheit der Kraft-Abstands-Kurve
- Alle Parameter und Kanäle werden auf einem Diagnosepakete erhältlich
einzigen Bildschirm angezeigt, um einen - 3D-Mehrkanal-Bildgebung in Echtzeit - Kolokalisierung von Oberflächendaten
umfangreichen Überblick zu geben. mit Overlays anderer Analysen möglich, z. B.
Ergebnisse der Raman-Spektroskopie
Brillante Einblicke in Ihre Proben
Polymermischung Halbleiter
Vertiefungsanordnung,
z-gespiegelt Nanoindentierung
Elektronik
Atomare Stufen
Mittig gebrochener PMMA/SBS-Polymermischung, PDMS-Membran Nanoindentierung für Kupfer Wafer, Siliziumkarbid,
Dickschichtwiderstand (500 kΩ); Topographiebild mit Höhenbild (z-gespiegelt), mit Berkovich-Nanoindenter, Bildgröße 30 µm x 30 µm, Stufengröße 0,76±0,03 nm
Details
Überlagerung von Topographie Phasenkontrastüberlagerung, Bildgröße 5 µm x 5 µm, Bildgröße 38 µm x 32 µm, Auflösung 500 x 500 (Nennstufengröße 0,75 nm),
und Strom, Bildgröße 10 µm x 10 µm, Auflösung 500 x 500 Auflösung 500 x 500 Bildgröße 2 µm x 2 µm,
Bildgröße 700 µm x 700 µm, Auflösung 500 x 500 Auflösung 500 x 500
Auflösung 400 x 400
Modus
Leitfähigkeits- Kontaktresonanzamplituden-
Intermittierender Modus Intermittierender Modus Intermittierender Modus Kontakt-Modus
Rasterkraftmikroskopie Bildgebung
Tosca ermöglicht
Tosca zeigt deutlich die Tosca liefert hervorragende Tosca misst multidimensional die hochauflösende Die Strukturierungen des Wafers Tosca führt eine exakte Messung
leitfähigen Bereiche des Einblicke in die unter anderem die 3D-Visualisierung des werden in 3D klar sichtbar der einzelnen atomaren Stufen
Standard-SMD-Widerstands Oberflächenverteilung der Gitterkonstante der Indents in Nanometern. gemacht und die Größe der durch. Dieses hochwertige
Analyse
durch präzise Strommessung im Polymerkomponenten auf Anordnung und die Oberflächenbereich, Höhe einzelnen Komponenten kann bildgebende Messgerät
C-AFM-Modus. Grundlage der mechanischen Vertiefungsabmessungen wie und Volumen der Indentierung gemessen werden. dient zur Untersuchung von
Eigenschaften. z. B. den Durchmesser und die sowie Aufwurf werden präzise 2D-Materialien wie Graphen
Tiefe. berechnet. Das ist wichtig für die oder Molybdändisulfid (MoS2)
Bestimmung der mechanischen mit einer Schichtdicke im
Eigenschaften wie Härte und Sub-Nanometerbereich.
Elastizitätsmodul.
Intelligente Tools und Zubehörkomponenten Spezifikationen
Tosca 400 Tosca 200
Große Proben Mittelgroße Proben
Scanner
Probemaster
X-Y-Scanbereich 100 µm x 100 µm 50 µm x 50 µm*
Mit Tosca können Sie unterschiedliche Cantilever-Marken nutzen. Wählen Sie
Ihren Favoriten. Sie legen einfach die Aktuatoreinheit und den Cantilever in Z-Scanbereich 15 µm 10 µm**
den Probemaster, das einzigartige Werkzeug für den Cantileverwechsel von
Anton Paar, schieben ihn zurück – und schon befindet sich der gewünschte Max. Rastergeschwindigkeit 10 Linien/Sekunde 5 Linien/Sekunde
Cantilever in einer optimalen Position für Ihre nächste Messung.
Probe
Der Probemaster bietet reichlich Platz für den Cantilever und kann deshalb Max. Probendurchmesser 100 mm (200 mm***) 50 mm
auch von Anwendern bedient werden, die noch keine Erfahrung mit
AFM haben. Schäden an teuren Proben werden durch die automatische Max. Probenhöhe 25 mm (2 mm***) 25 mm
Positionierung des Cantilever in der Aktuatoreinheit verhindert.
Max. Probengewicht
© 2020 Anton Paar GmbH | Alle Rechte vorbehalten.
Änderungen der Spezifikationen ohne Ankündigung möglich.
D53IP002DE-G
www.anton-paar.com
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