FED Mitarbeit an IPC und IEC Normen und Richtlinien Rainer Taube - FED Vorstand IPC Standards und Normen Vorgetragen von Gerhard Gröner Mitglied ...

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FED Mitarbeit an IPC und IEC Normen
      und Richtlinien
      Rainer Taube

      FED‐Vorstand IPC‐Standards und Normen

      Vorgetragen von Gerhard Gröner
      Mitglied im DKE K682

Ihr Fachverband für Design,
Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
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• Wozu Normung
       • Was sollte genormt werden und was nicht
       • Nationale und internationale Richtlinien und Normen
       • Unterschiede im Normungsprozess von IPC und IEC
       • Überblick IPC Standards
       • Ziele und Vorgehensweise des FED AK Normen
       • Aktuell in der Bearbeitung befindliche Normen
       • Zusammenarbeit des FED mit dem IPC

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
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Leistungsspektrum TAUBE ELECTRONIC

Leiterplattendesign
   Schwerpunkt: komplexe impedanzkontrollierte
   Multilayer in HDI & Starrflextechnologie unter
   Einsatz modernster Software für Lagenaufbau
   und Impedanzkontrolle (Polar tools)

Fertigung von Baugruppen und Geräten
    IPC‐A‐610 Klasse 2 & 3 (> 40% Klasse 3 Produkte)
    Weltweiter Materialeinkauf
    AOI, Röntgen, XRF, Funktionsprüfung,
     Boundary Scan
    BurnIn, Reinigung & Coating

Anspruchsvolle Rework‐Aufgaben
    Balling, Reballing and Austausch von
     komplexen BGAs/µBGAs/µ‐Components

    Interposer Lösungen
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Firmenphilosophie und Erfolgsfaktoren

Orientierung an den Kundenanforderungen
  Wir möchten unsere Kunden begeistern

First Time Right
     Geringere Kosten
     Schnellere Markteinführung
     Höhere Qualität und Zuverlässigkeit
     Geringerer Ressourcenverbrauch

Technische Kompetenz
  Weiterentwicklung zusammen mit den Besten im Markt

Partnerschaft mit Kunden & Lieferanten
  Gemeinsamer Lernprozeß mit Kunden, Lieferanten & Mitarbeitern
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Mein Weg zu Normen

    • 1988 Leiterplattendesign und Produktion einer Steuerung für den
      Einsatzbereich Ölförderung auf Grundlage von MIL‐STD‐275E/Printed
      Wiring for Electronic Equipment
    • Erarbeitung einer Lötspezifikation auf Basis von IPC‐S‐815 Vorläufer
      von IPC/J‐STD‐001
    • Seit 2002 IPC‐A‐610 Trainer
    • Seit 2006 IPC‐A‐610 Master Trainer beim FED Trainingszentrum für
      IPC‐Standards
    • Seit 2006 Mitglied von DKE682 und IEC TC91
    • Seit 2011 FED Vorstand IPC Standards und Normen
    • Seit 2013 Mitglied im IPC Chairman Coucil Committee (CCC) und im
      Technical Activities Executive Council

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
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Normen, ächz, wie langweilig …

                    Ab 2017 sind einheitliche Ladegeräte für Mobiltelefone in
                    der Europäischen Union (EU) Pflicht. Das EU-Parlament
                    stimmte für eine entsprechende Gesetzesvorlage.

               Warum sollen wir uns bloß mit
               Normen beschäftigen

                    „So können wir zu Hause Kabelsalat und in der
                    Umwelt 51.000 Tonnen Elektromüll pro Jahr
                    vermeiden", sagte die Berichterstatterin Barbara
                    Weiler (S&D, DE)

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
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Wozu dienen Normen

    Vereinheitlichung von Anforderungen
    Beschreibung von Prüfverfahren
    Vertragsgrundlage zwischen Kunden und Lieferanten
    Minimierung von Sicherheitsrisiken
    Festlegung von Begriffen und Definitionen
    Gemeinsame Sprache zwischen Vertragspartnern
    Beseitigung von Handelsbarrieren
    Internationaler wirtschaftlicher Austausch
    Vermeidung von Haftungsrisiken

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
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Internationale Standards und Normen

                                         The IEC is one of the bodies recognized by the
                                         World Trade Organization (WTO) and entrusted
                                         by it for monitoring the national and regional
                                         organizations agreeing to use the IEC's
                                         international standards as the basis for national
                                         or regional standards as part of the WTO's
                                         Technical Barriers to Trade Agreement.

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
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Internationale Standards und Normen

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Europäische Normung

    • 1985 Die Europäische Union beschließt den
      "New Approach" (Neue Konzeption) und
      wertet damit die Europäische Normung
      wesentlich auf.
    • EU‐Richtlinien enthalten ab diesem Zeit‐
      punkt grundlegende Anforderungen
      (Sicherheit, Gebrauchstauglichkeit, Schutz
      von Gesundheit, Umwelt etc.).
    • Die Detailregelungen erfolgen durch
      Verweis auf harmonisierte Europäische
      Normen. Diese werden in den Komitees der
      Europäischen Normungsorganisationen
      CEN und CENELEC (Elektrotechnik) auf der
      Basis von Mandaten (Aufträgen) der EU und
      der EFTA erarbeitet.
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Gesetze, Normen und der „Stand der Technik“

    Unter Stand der Technik werden die technischen Möglichkeiten
    zusammengefasst, die zum aktuellen Zeitpunkt gewährleistet sind und die sich
    ihrerseits auf wissenschaftliche und technische Erkenntnisse stützen.
    •     Normen haben kraft Entstehung, Trägerschaft, Inhalt und
          Anwendungsbereich den Charakter von Empfehlungen, deren Beachtung und
          Anwendung jedermann freisteht. Normen an sich haben keine rechtliche
          Verbindlichkeit.
    •     Normen können durch Rechts‐ und Verwaltungsvorschriften eines Gesetz‐
          oder Verordnungsgebers oder durch Verträge, in denen ihre Einhaltung
          vereinbart wurde, verbindlich werden. Sie dienen häufig der Ausfüllung
          unbestimmter Rechtsbegriffe, zum Beispiel des Begriffes „Stand der Technik“,
          und erlangen dadurch rechtliche Bedeutung.

    http://de.wikipedia.org/wiki/Normung

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Nationale Normung

    DIN Deutsches Institut für Normung e. V.
    mit 72 Normenausschüssen zuständig für die Normung in der Bundesrepublik
    Deutschland.
    Rechtsgrundlage: Normenvertrag mit der Bundesrepublik Deutschland vom 5.
    Juni 1975.

    DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im
    DIN und VDE
    Normenausschuss des DIN und Organ des VDE
    zuständig für Normen und Sicherheitsbestimmungen in Elektrotechnik, Elektronik
    und Informationstechnik in Deutschland.
    Deutsches Mitglied in:
    IEC ‐ Internationale Elektrotechnische Kommission, Genf und
    CENELEC ‐ Europäisches Komitee für elektrotechnische Normung, Brüssel.
    ETSI ‐ Europäisches Institut für Telekommunikationsnormen, Sophia‐ Antipolis

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Internationaler Standard (IS)

    Definition: Eine Norm (Standard) oder deren Resultate beschreibt, mit dem Ziel,
    einen optimales Maß von Ordnung in einem Kontext zu erreichen. ist ein
    Dokument, das für eine allgemeine und wiederholte Anwendung Regeln,
    Richtlinien oder Merkmale für Aktivitäten
    Internationaler Standard
    Ein Internationaler Standard wird durch eine internationale Standardisierungs‐
    organisation verabschiedet und der Öffentlichkeit zur Verfügung gestellt. Die
    Definition in allen IEC Standards heißt: “Ein normatives Dokument, entwickelt in
    Übereinstimmung mit Konsensverfahren, die von den Mitglieder des
    verantwortlichen nationalen IEC Komitees angenommen wurden, entsprechend
    Teil 1 der ISO/IEC Direktiven."
    Konsens
    Der Begriff “Konsens" kennzeichnet die Übereinstimmung der beteiligten
    Gruppen bezüglich der Regelungen. (Hersteller, Anwender, Verbraucher und
    allgemeine Interessengruppen.)
    IS entstehen durch internationalen Konsens zwischen den IEC Mitgliedern
    (Nationalen Komitees)
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Internationaler Standard (IS)

    Teilnahme der Öffentlichkeit
    Wichtiges Merkmal eines echten Internationalen Standards ist die Tatsache dass
    er der öffentlichen Begutachtung in allen IEC Mitgliedsländern zugänglich
    gemacht werden kann. Durch das Konsensverfahren und die öffentliche
    Begutachtung kann jede Interessengruppe sich in der Entwicklung und
    Veröffentlichung eines internationalen Standards einbringen.

    Annahme
    Ein internationer Standard wird angenommen durch:
    a) Zustimmung von 2/3 der stimmberechtigten Mitglieder (P‐members) des
        Komitees oder Subkomitees
    b) Nicht mehr als ein Viertel Gegenstimmen aller stimmberechtigten Mitglieder
        des Komitees.

    Freiwillige Übernahme
    Übernahme von IEC Standards durch ein Land ist freiwillig, unabhängig davon ob
    es Mitglied der Komission ist oder nicht
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Technische Spezifikationen (TS)

    Technische Spezifikationen
    ‐ wenn sich der Gegenstand des Standards
      noch in der Entwicklung befindet
    ‐ wenn kein Konsens für die Annahme eines
      Internationalen Standards erzielt werden kann
    Technische Spezifikationen nähern sich
    Internationalen Standards hinsichtlich
    Vollständigkeit und Detaillierung, haben aber
    noch nicht alle Stufen Standardisierungsprozesses durchlaufen.
    Annahme
    Eine technische Spezifikation ähnelt einem Internationalen Standard darin, dass
    sie in ihrer Natur normativ ist und in Übereinstimmung mit den Konsensverfahren
    entwickelt wurde.
    Die Annahme erfolgt mit einer 2/3 Mehrheit der abstimmungsberechtigten
    Mitglieder (P‐Member) eines IEC TC oder Subcommittee (SC) in der Stufe Draft
    Technical Specification (DTS) unmittelbar nach dem Committee Draft (CD).
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Technical Report (TR)

    Ein Technischer Report enthält Daten, die üblicherweise
    nicht in einer Norm veröffentlicht würden, zum Beispiel
    aus einer Umfrage von Nationalen Komitees, Arbeits‐
    ergebnisse anderer internationaler Organisationen oder
    Daten die darstellen, was der Stand der Technik in
    Bezug auf Normen von Nationalen Komitees oder in
    Bezug auf einen ähnlichen Themenbereich ist.
    Technische Reports sind vollständig informativ und
    dürfen nichts enthalten was als normativer Inhalt
    betrachtet werden könnte.
    Annahme
    Ein technischer Report (TR) wird durch die einfache
    Mehrheit der stimmberechtigten Mitglieder eines
    Technischen Komitees des IEC oder eines Subkomitees
    angenommen.

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Beispiel: IEC TC91 WG6 Embedded

    Standards structure for device embedded substrate
    Generic standards (IS)
    IEC 62xxx‐1      Device embedded substrate – Generic specification
                     NP to be issued
    Sectional standards (IS)
    IEC 62xxx‐2‐1    Device embedded substrate – Requirements ‐ Test
                     methods (current draft 62326‐18)
    IEC 62xxx‐2‐2    Device embedded substrate – Requirements –
                     Components for embedding NP to be issued
    IEC 62xxx‐2‐y    Device embedded substrate – Requirements –           Die Embedded Normenreihe
                     Sectional specification for ….                       ist jetzt 62878-x-x
                     Reserved for IS related to requirements to special
                     technologies / products
    Guidelines and supporting documentation
    IEC/TR 62xxx‐3‐1 Device embedded substrate – Guidelines ‐ General description of technology
                     (current draft 62326‐16)
    IEC/TR 62xxx‐3‐2 Device embedded substrate – Guidelines ‐ Electrical testing
                     (current draft 62326‐15)
    IEC/TS 62xxx‐3‐3 Device embedded substrate – Guidelines ‐ Design guide
                     (current draft 62326‐19)
    IEC/TS 62xxx‐3‐4 Device embedded substrate – Guidelines ‐ Test element groups (TEG)
                     (current draft 62326‐17)

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Publicly Available Specification (PAS)

    Ein PAS repräsentiert dringende Marktanforderungen und enthält entweder:
    •     Den Konsens in einer Organisation außerhalb von IEC (z.B. von Herstellern
          oder kommerziellen Verbänden, Industriekonsortien, Anwendergruppen oder
          professionellen und wissenschaftlichen Gesellschaften)
    •     Den Konsens von Experten innerhalb einer Arbeitsgruppe (WG) oder eines
          Projektteams.
    •     Ein PAS darf nicht im Widerspruch zu einem Internationalen Standard stehen,
          konkurrierende PAS zum gleichen Thema sind jedoch erlaubt.
    •     Zweck von PAS ist es, die Standardisierung in sich schnell entwickelnden
                                                                      Entspricht
          Technologien zu beschleunigen und die Arbeit von industriellen         IPC/J‐STD‐609
                                                                           Verbänden    in
          den Arbeitsbereich von IEC einzubringen
    •     Ein PAS kann auch eine Dual‐Logo Publikation sein, die von einer externen
          Organisation entwickelt wurde und in einer A‐ oder D‐Verbindung mit dem
          betroffenen TC steht (dann Ausweisung als vorläufiger Standard möglich)
    Zustimmung
    Einfache Mehrheit der P‐Member eines TC oder STC

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Wie kann ein neues Projekt bei IEC starten?

    New Work Item Proposal (NP)
    • Vorschlag für neues Projekt aus der Industrie durch das Nationale Kommitte
    • Angenommen nach einer Kommentierungs‐/Abstimmungsphase von 3 Monaten wenn:
    • Die einfache Mehrheit der P‐Member zustimmt
    • Die erforderliche Mindestanzahl von Experten nominiert wurde:
       Kommittees  16 Mitglieder benötigen 5 Experten
    Ein New Work Item Proposal (NP) kann sein:
    • Ein neuer Standard (IS)
    • Ein neuer Abschnitt eines existierenden Standards
    • eine Technische Spezifikation (TS)
    Ein New Work Item Proposal (NP) kann vorgeschlagen werden durch:
    • Ein Nationales Gremium;
    • Das Sekretariat des Technischen Kommittees oder Subkommitees
    • Ein anderes Technisches Komitee oder Subkomitee
    • Eine verbundene Organisation (Liaison)
    • Das Technische Managementboard des IEC oder eines Beratungsgremien (Adv. Board)
    • Den Chief Executive Officer (CEO)

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Zuständige Working Group (WG) ermitteln

    TC91 Electronics assembly technology
    WG1  Requirements for electronic components
    WG2  Requirements for electronics assemblies
    WG3  Measuring and test methods for electronics assemblies
    WG4  Printed boards and materials
    WG5  Terms and definitions
    WG6  Printed boards ‐ Device Embedded Substrate ‐ Terminology /
         Reliability /Design Guide
    WG10 Measuring and test methods for printed boards and printed board materials
    WG11 Printed board electronic data description and transfer
    WG12 Design of printed boards and board assemblies

    (WG13) Design Automation: Component, Circuit and System Description Language
    (WG14) Design Automation: Library of reusable Parts for Electrotechnical Products
    (WG15) Design Automation: Testing of Electrotechnical Products

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Normungsprozeß IEC Flußdiagramm

                                         RVC = Report of
                                         Voting on CDV

                                              Quelle: J. von der Ohe/Vishay BC Components

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Normungsprozeß IEC

      Stufe                              Abk.   Zeitraum    Approval
      Preliminary Stage                  PWI
      Proposal Stage                     NP     3 Monate    Einf. Mehrheit, 4/5 Experts
      Preparatory Stage WD                      6 Monate
      Committee Stage                    CD     12 Monate
      Enquiry Stage                      CDV    0-4 Monate 2/3 P-M/
Standardisierung beim IPC

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Standardisierungsprozeß IPC

Ihr Fachverband für Design,              24
Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Bedeutung der Standardisierung

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Standardisierungskomitees des IPC

                                         36 Komitees
                                             98 Subkomitees
                                                 82 Sub‐Subkomitees

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
IPC Standardisierungsprozeß Überblick

    Project Initiation Notation (PIN)
    • Prinzipielle Annahme durch Vice President
       Standards & Technology => TAEC
    • TAEC entscheidet mit 2/3 Mehrheit der
       abgegebenen Stimmen
    • PIN enthält Meilensteine und Zeitplan
    • Projektverantwortliche
    • Experten
    • Bearbeitung in Task Groups
    • IPC Nichtmitglieder können teilnehmen

    Dokumenttypen                        Rolle des TAEC:
                                         “The IPC Technical Activities Executive Committee (TAEC) is
    •     Standards                      responsible for the management function related to the
    •     Amendments                     standardization and technical activity within IPC. The TAEC will
                                         review, prioritize and approve the technical programs of IPC and
    •     Specification
                                         recommend allocation of appropriate resources to the Board of
    •     Guidelines                     Directors.” Quelle: Standardization Process of the IPC, 2007
    •     Technical Reports
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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
IPC Standardisierungsprozeß

    Working Draft
    Nach Annahme durch TAEC zirkuliert der Entwurf in der
    Task Group und wird kommentiert und modifiziert bis
    das Komitee ihn der Industrie zur Kommentierung
    vorstellt
    Final Draft for Industry Review
    Kommentare der Industrie werden in einem
    kontrollierten und transparenten Prozeß bearbeitet
    Formierung der Abstimmungsgruppe (Consensus
    Group)
    Maximal ein Teilnehmer pro Firma
    Proposed Standard for Ballot
    Formatiertes Dokument
    Ausbalancierte Abstimmungsgruppe (Anwender,
    Lieferanten, öffentliche Interessengruppen)
    Zirkulation für 30 Tage, Annahme mit 2/3 Mehrheit der
    abgegebenen Stimmen,
Beispiel: Projektinitialisierungs Formular

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Beispiel: PIN/2

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Beispiel: PIN/3

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
IPC Standards Überblick

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Gibt es vergleichbare Standards bei IEC & IPC?
                                                                            2014 Rev. F
    IPC/J‐STD‐001E ‐ Requirements for soldered Electrical
    and Electronic Assemblies 2005 Rev. D, 2010 Rev. E
    IEC 61191‐1 Ed. 2: Printed board assemblies ‐ Part 1: Generic
    specification ‐ Requirements for soldered electrical and
    electronic assemblies using surface mount and related
    assembly technologies (2013)
    IEC 61191‐2 Ed.2.0: Result of voting on 91/1015/CDV: IEC 61191‐       Rev E 4/10
    2 Ed. 2: Printed board assemblies ‐ Part 2: Sectional specification   Rev D Amend 1 4/08
    ‐ Requirements for surface mount soldered assemblies (2013)           Rev D 2/05
                                                                          Rev C 3/00
    IEC 61191‐3 Ed.2.0: Review report on IEC 61191‐3 Ed. 1: Printed       Rev B 10/96
    board assemblies ‐ Part 3: Sectional specification ‐ Requirements     Rev A 1/95
    for through‐hole mount soldered assemblies (1998)                     Orig. 4/92; Supersedes
                                                                          IPC-S-815
    IEC 61191‐4 Ed.2.0: Review report on IEC 61191‐4 Ed. 1: Printed
    board assemblies ‐ Part 4: Sectional specification ‐ Requirements
    for terminal soldered assemblies (1998)

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Sind J-STD-001 und IEC-61191 kompatibel

    61191-2

    J-STD-001E

Ihr Fachverband für Design,                   34
Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Normungsprozeß IPC – IEC im Vergleich

    IPC                                       IEC
                                               PWI – Preliminary Work Item
     PIN – Project Initialisation Notation    NP – New Project
     Working Draft                            WD – Working Draft
     Final Draft for Industry Review          CD – Comittee Draft
     Proposed Standard for Ballot             CDV – Committee Draft for Voting
                                                => DTR/DTS/PAS
     Published Standard
                                               FDIS – Final Draft International
     (ANSI Approval)                           Standard
                                               IS – International Standard

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Revisionprozess IPC Beispiel IPC-A-610F

    •     2‐3 Standard Komitee Meetings pro Jahr, je 1‐2 Tage    Rev F Ende 2014
                                                                 Rev E 4/10
    •     Parallele Bearbeitung der Anforderungen in J‐STD‐001   Rev D Amend 1 4/08
                                                                 Rev D 2/05
    •     Und der Abnahmekriterien in IPC‐A‐610                  Rev C Amend 1 11/01
    •     Ziel: Keine Widersprüche zwischen Anforderungen und    Rev C 1/00
                                                                 Rev B 12/94
          Abnahmekriterien                                       Rev A 3/90
                                                                 Orig. 8/83
    •     Sehr große Gruppen (80‐100 Teilnehmer) mit
          wechselnder Zusammensetzung
    •     Langwieriger Konsensprozess
    •     Starke internationale Beteiligung der Industrie
    •     244 Änderungsvorschläge für IPC‐A‐610 F
    •     218 Änderungsvorschläge für IPC/J‐STD‐001
    •     92 Abgleichvorschläge zu J‐STD‐001 und IPC‐A‐610

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Abgleich Anforderungen – Abnahmekriterien

                                         Beispiel aus J‐STD‐001  IPC‐
                                         A‐610 Synergy Comments

Ihr Fachverband für Design,                                              37
Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
FED AK Normen und Richtlinien

     Expertengruppe(n), die
      Änderungswünsche aus der
      Elektronikindustrie konkret in
      Änderungs‐ und Ergänzungs‐
      vorschläge für neue Revisionen
      der Standards umsetzen.
     Der FED organisiert diesen
      Arbeitsprozess.
     Die fachliche Arbeit findet dann im
      Wesentlichen in Form von
      Webmeetings (und/oder Telefon‐
      konferenzen) statt.

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Aktivitäten
                                             Zulässig ‐ Klassen 1,2,3 bisher
  Konzentration auf die Überarbeitung von
   IPC‐A‐610 Rev. F
  Effektive Webmeetings mit GoToMeeting
   Videokonferenzen
   Dokumentenbearbeitung am Bildschirm
   möglich
   Moderation kann übertragen werden
  6 Webmeetings zu IPC‐A‐610F
        ‐ 13.06.2013
        ‐ 11.07.2013                         Zulässig ‐ Klassen 1,2,3 Vorschlag Neu
        ‐ 08.08.2013
        ‐ 05.09.2013
        ‐ 12.12.2013
        ‐ 19.12.2013
  Komplette Überarbeitung aller offenen
   Kommentare zu IPC‐A‐610F
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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Revisionprozess IPC Beispiel IPC-A-610F

       Bisher in Rev. E

                                         Vorschlag DE als Comment Nr. 141

      Neu in Rev. F

Ihr Fachverband für Design,                                                 40
Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Intensivierung der FED Normungsarbeit

  Verstärkung der Kontakte
  Regelmäßige Teilnahme an APEX und
   Designers Council sowie Standards
   Workgroups Meetings
  Persönliche Kontakte über die
   Arbeitsgruppen in TC91
  Mitarbeit an der IPC‐Roadmap
  Meeting während der SMT mit David
   Bergman u. Marc Carter
  Diverse Camest, IPC‐7351 und IPC‐7070
   Webmeetings

Ihr Fachverband für Design,                 41
Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
IPC-Task Group 5-21a/IPC-7070

  Frühere IPC‐CM‐770/Guidelines for
   Printed Board Component Mounting
   Co‐Chairmen: Tom Hausherr/R. Taube
  Letzte Ausgabe ist von Januar 2004
   muss also dringend überarbeitet werden
   insbesondere hinsichtlich neuer Bauteil‐
   typen und Fertigungsanforderungen
 Diskussionspunkte
  Klassifizierung von Bauteilen
  Klassifizierung von Baugruppen
  Ersetzten der grafischen Bauteilbilder
   durch 3D‐Modelle

Ihr Fachverband für Design,                   42
Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
IPC-7251/7351 und IPC-7070

     Parallele Bearbeitung von IPC‐7251/7351
      und IPC‐7070
     Erster Entwurf IPC‐7070/Component
      Mounting Issues and Recommendations
     SCOPE
      This document describes the design and
      assembly challenges for various types of
      components used in electronic equipment.
      The focus of the information contained
      herein is on mounting and attachment in
      different applications and the items critical
      for high yield assembly, inspection, repair,
      and reliability issues associated with the
      different component packages.

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Component Classification Confusion

     Zur Zeit inkonsistentes Klassifizierungssystem
     Einige Gehäuseklassen aufgrund ihrer elektrischen Funktion
      8.1 Discrete Passives SMT (grouping criteria Electrical Function)
      but this Chapter includes actives too in 8.1.4 (DIOM) and 8.1.5
      (DIOMELF)
      8.2 Transistor SMT Packages (grouping criteria Electrical Funktion)
     Einige andere aufgrund des Anschlusstyps
      8.3, 8.4 leaded
      8.6 BTC
     Mit Untergruppen aufgrund der Anschlussposition
      8.3 two sides
      8.4 four sides
     Wieder andere aufgrund der Anschlussanordnung
      8.5 Area Array
Ihr Fachverband für Design,                                                 44
Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Neues Klassifikationskonzept

    Pitch legt Lötverfahren/‐einschränkun‐
    gen fest
    Anschlusstyp legt die Anforderungen
    an Anschlussflächen fest

    Konzept für die Bauteilklassifizierung
    und Auswahl
    1. Bauteilauswahl nach Funktionalität
    2. Gehäuseauswahl nach Verarbeitungs‐
       und Zuverlässigkeitsanforderungen
    3. Anschlussflächen nach Anschlusstyp

Ihr Fachverband für Design,                  45
Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Aktueller Stand Revision IPC-7070 und IPC-7351

Ihr Fachverband für Design,                          46
Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Aktueller Stand Revision IPC-7070

Ihr Fachverband für Design,              47
Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Resümee

    •     Es gibt vielfältige Möglichkeiten die Normung zu beeinflussen
    •     IEC Standards haben eine größere Bedeutung bei der Umsetzung gesetzlicher
          Anforderungen bezüglich Gesundheit, Sicherheit und Umweltschutz
    •     IPC Standards werden hauptsächlich im Bereich der Elektronikproduktion
          verwendet
    •     Die Anwendung von Normen ist grundsätzlich freiwillig, außer wenn sie in
          Gesetzen referenziert werden
    •     Durch die Anwendung von vertraglich vereinbarten Normen/Richtlinien
          werden Kunden – Lieferantenbeziehungen auf eine gesicherte Grundlage
          gestellt
    •     In vielen Normungsorganisationen fehlt es an Experten aus der Industrie –
          hier liegt eine große Aufgabe und Chance für alle Firmen und Verbände

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
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            Nostitzstraße 30
            D-10965 Berlin
            Telefon 030 69 59 25 0
            e-mail: r.taube@taube-electronic.de

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Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
Anhang: IEC 60664
      VDE                   IEC              Isolationskoordination für elektrische Betriebsmittel in
                                             Niederspannungsanlagen
      VDE 0110-1            DIN EN 60664-1   Teil 1: Grundsätze, Anforderungen und Prüfungen (IEC 60664-1:2007);
                                             Deutsche Fassung EN 60664-1:2007
      VDE 0110-1            DIN EN 60664-1   Teil 2-1: Anwendungsrichtlinie – Erläuterungen zur Anwendung der
      Bbl 1                 Bbl 1            Normenreihe IEC 60664, Bemessungsbeispiele und Isolationsprüfungen
                                             (IEC/TR 60664-2-1:2011 + Cor.:2011)
      VDE 0110-1            DIN EN 60664-1   Beiblatt 3: Berücksichtigung von Schnittstellen; Anwendungsleitfaden (IEC/
      Bbl 3                 Bbl 3            TR 60664-2-2:2002)
      VDE 0110-3            DIN EN 60664-3   Teil 3: Anwendung von Beschichtungen, Eingießen oder Vergießen zum
                                             Schutz gegen Verschmutzung (IEC 60664-3:2003 + A1: 2010) Deutsche
                                             Fassung EN 60664-3:2003 + A1:2010
      VDE 0110-3                             Berichtigung zu DIN EN 60664-3: 2010-10; (IEC-Cor.:2010 zu IEC 60664-3:
      Ber.1                                  2003/A1: 2010-05:2003 + A1: 2010) Deutsche Fassung EN 60664-3:2003 +
                                             A1:2010
      VDE 0110-4            DIN EN 60664-4   Teil 4: Berücksichtigung von hochfrequenten Spannungsbeanspruchungen
                                             (IEC 60664-4:2005); Deutsche Fassung EN 60664-4:2006
      VDE 0110-4                             Berichtigungen zu DIN EN 60664-4 (VDE 0110-4):2006-06; CENELEC-
      Ber.1                                  Corrigendum Oktober 2006 zu EN 60664-4:2006
      VDE 0110-5            DIN EN 60664-5   Teil 5: Ein umfassendes Verfahren zur Bemessung der Luft- und
                                             Kriechstrecken für Abstände gleich oder unter 2 mm (IEC 60664-5:2007);
                                             Deutsche Fassung EN 60664-5:2007

                                                                    http://de.wikipedia.org/wiki/DIN-VDE-Normen_Teil_1
Ihr Fachverband für Design,                                                                                          50
Leiterplatten‐ und Elektronikfertigung
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