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EINLADUNG
TECHNOLOGIE- UND ANWENDERKONGRESS
24.-25. OKTOBER 2018 | FÜRSTENFELDBRUCK BEI MÜNCHEN | NI.COM/VIP
VIP2018
FUTURE
FASTER
heater on
T
?
F
heater off
hold timer started
True
0,1
t0 waveform timestamp
Y
final value
Max and Min
hold time
Index Array Build Cluster
0,1
target temperature Measured Temperature
VIP 2018 - Seien Sie dabei! Keynotes
Wir laden Sie herzlich zu unserem Technologie- und Anwenderkongress BEGRÜSSUNG: Goeorg Plasswilm, Geschäftsführer & Sales Director, Central European Region, National Instruments
„VIP 2018 – Virtuelle Instrumente in der Praxis“ ein, der am 24. – 25. Oktober MITTWOCH - 09:30 – 10:45 UHR
in Fürstenfeldbruck stattfindet. DONNERSTAG - 09:00 – 10:00 UHR
SCHNELLER IN DIE ZUKUNFT Lassen Sie sich von Entscheidungsträgern und Vordenkern aus der Industrie inspirieren, die sich zu künftigen
Branchentrends aus den Bereichen Automotive, Halbleitertechnik, Luft- und Raumfahrt sowie Ausbildung und
Sie möchten schneller Ihre leistungsfähigen Test- und Messsysteme entwickeln und automatisieren? Dann sollten
Lehre äußern. Erfahren Sie von Fachkollegen, wie diese mit neuesten NI-Technologien ihre Herausforderungen
Sie dieses Highlight nicht verpassen! Auch dieses Jahr erwarten wir mehr als 700 Ingenieure, Wissenschaftler und
bewältigen konnten und profitieren Sie von deren Einblicken und unseren Erkenntnissen, die wir Ihnen auf der
Branchenführer auf dem Technologie- und Anwenderkongress „VIP 2018“, die mehr über die softwarezentrierte
VIP-Bühne präsentieren.
Plattform von NI erfahren möchten.
■■
Erleben Sie neueste Technologien hautnah!
In spannenden Keynotes und Fachvorträgen sowie Praxisworkshops und Produktvorführungen erfahren Sie von
NI-Experten, Kunden und Partnern des NI-Ecosystems alles über die neuesten Entwicklungen im Bereich der
automatisierten Test- und Messsysteme.
■■
Lernen Sie in unseren neuen Development Tracks wertvolle Best Practices kennen!
Gemeinsam mit den anwesenden Branchenexperten, langjährigen LabVIEW-Entwicklern und Kollegen können
Sie Techniken und Konzepte entwickeln, die Sie beim erfolgreichen Aufbau eines maßgeschneiderten Systems
unterstützen. Finden Sie heraus, mit welchen innovativen Best Practices Sie Ihr System an neue und sich
verändernde Prüfanforderungen anpassen können, um im Wettbewerb die Nase vorn zu haben!
■■
Knüpfen Sie Kontakt mit Branchenführern und Experten!
Treffen Sie Kollegen aus dem deutschsprachigen Raum zum Erfahrungsaustausch sowie führende Vertreter von NI
aus den Bereichen R&D und Produktmarketing zu persönlichen Gesprächen rund um den Einsatz neuer Technologien,
Roadmaps und Projektmeilensteine!
Sie haben noch Fragen? Die ausführliche Agenda und die neuesten Informationen zum Kongress finden Sie auf unserer
Website unter: ni.com/vip.
Wir freuen uns auf Ihre Teilnahme!
ppa. Rahman Jamal Georg Plasswilm
Business and Technology Fellow Geschäftsführer & Sales Director, Central Europe
National Instruments National Instruments
2 | ni.com/vip ni.com/vip | 3
Vortragsreihen Vortragsreihen
AUTOMOTIVE TEST & VALIDATION ACADEMIC TEACHING SKILLS DEVELOPMENT – DEVELOPMENT AUTOMATED MEASUREMENTS
OF DISTRIBUTED APPLICATIONS
In diesem zweitägigen Track „Automotive Test & Wie wird Theorie anschaulich vermittelt? Wie wird das Wir zeigen, wie Ingenieure und Wissenschaftler mit
Validation“ geht es um zwei große Trends in der Erlernte für Studenten relevant? Vor diesem Hintergrund Applikationen werden aufgrund wachsender Anforderungen softwaredefinierten, automatisierten Messsystemen
Automobilindustrie: dem autonomen Fahren und den spannen wir den Bogen von neuen NI-Technologien über immer komplexer, sei es durch Einbinden verschiedener reale Herausforderungen bewältigen. Lernen Sie unsere
damit einhergehenden Herausforderungen in den praktische Beispiele aus der Lehre bis zur Diskussion über Dienste oder vielfältiger Hardware. Gemeinsam mit neueste Datenerfassungshard- und -software kennen
Bereichen ADAS und V2X-Kommunikation. Außerdem die Frage: Was muss ein Student können, um erfolgreich Bereichsexperten, Anwendern und Partnern beleuchten und erfahren Sie mehr zu Trends und Technologien sowie
betrachten wir das Thema Elektrifizierung aus dem in den Beruf zu starten? wir die Aspekte, die bei der Entwicklung einer solchen deren Einfluss auf die Zukunft unserer Plattform.
Blickwinkel des Testens, vom Design bis zur Produktion. Applikation zu betrachten sind.
ACADEMIC RESEARCH SKILLS DEVELOPMENT SOFTWARE
SEMICONDUCTOR TEST BUSINESS & TECHNOLOGY TRENDS ENGINEERING - WORKSHOPS
Ingenieure und Wissenschaftler nutzen NI-Produkte auf
Wenn jedes Gerät mit mehr RFICs und MEMS vielfältige und innovative Art und Weise, um Unbekanntes Die Vortragsreihe „Business & Technology Trends“ Als Fortsetzung zur Vortragsreihe „Skills Development
ausgestattet wird, sind mehr Sensor- und RF-Tests nötig. zu entdecken, und inspirieren damit auch andere. Erfahren beleuchtet jedes Jahr wichtige Neuigkeiten und Software Engineering“ wird es am zweiten Tag zu
Dabei sollen getätigte Investitionen und eine optimale Sie, was möglich ist, wenn Sie die gewohnten Pfade Weiterentwicklungen und gibt technologische Ausblicke den zwei Themenschwerpunkten Requirements und
Testabdeckung gewahrt werden – am besten mit einer verlassen und die Haltung des „So haben wir das schon für und rund um den Bereich automatisiertes Messen Continuous Integration Workshops geben, bei denen
Messplattform, die vom Labor über die Charakterisierung immer gemacht“ hinterfragen. und Testen. Daneben stehen immer auch relevante Sie die Möglichkeit haben, die Diskussionen zu vertiefen
bis in die Halbleiterproduktion skaliert. Unternehmens- und Wirtschaftsaspekte im Mittelpunkt. und sich auszutauschen.
SKILLS DEVELOPMENT – SOFTWARE ENGINEERING
AEROSPACE & DEFENSE DATA MANAGEMENT HANDS-ON NI HARDWARE AND SOFTWARE
Lernen Sie in diesem innovativen neuen Format
Luft- und Raumfahrttechnologie wird immer komplexer Herangehensweisen kennen, mit denen Sie Big Analog Data: Seit Jahren müssen wir mit steigenden Testen Sie unsere Hard- und Software, indem Sie sie selber
und die Fristen für die Bereitstellung von Testsystemen Anforderungen richtig erfassen, verfolgen und umsetzen Datenmengen aus zunehmend vernetzten Quellen arbeiten. ausprobieren oder die Step-by-Step-Anleitungen nutzen.
immer kürzer. Das erfordert intelligentere Lösungen für und den kompletten Entwicklungsprozess mit Continuous- Wir besprechen aktuelle Trends und technologische Profitieren Sie dabei von unseren Experten vor Ort, die
eine schnelle Systemintegration und die Unterstützung Integration-Ansätzen automatisieren können, um Fehler Neuerungen, wie firmenweite Analyselösungen, und Ihnen helfen, erste Stolpersteine bei der Evaluierung aus
älterer Programme. Mit flexibel anpassbaren Hard- und und wiederkehrende Prozesse zu vermeiden. zeigen reale Anforderungen aus der Automobilindustrie, dem Weg zu räumen, um so schnell einen guten Eindruck
Softwareplattformen lassen sich Testsysteme zügig z. B. von Daimler und Volkswagen. zu bekommen.
entwickeln und zertifizieren, neue Technologien einbinden
und die Gesamtprüfkosten senken.
ni.com/vip | 5Agenda - Mittwoch, 24. Oktober 2018
09:30 KEYN OTE (STADTSAAL)
10:45 KAFFEEPAUSE/ BESUCH DER AUSSTELLUNG
Skills Development – Automotive Test
Academic Teaching Semiconductor Test Data Management Automated Measurements Hands-on NI Hardware and Software
Software Engineering & Validation
Aktuelle Trends und neue
Die Automobilindustrie verändert Hürden beim projektbasierten Neue Technologien
Produkte für den Halbleitertest Vernetzte Datenflüsse: Das Beste
Anforderungen – Erfassen, sich nicht erst jetzt. Sie hat sich Lernen mit dem neuen NI ELVIS III für Anwendungen zum
11:15 Christian Spiß, aus allen Welten verbinden Hardware: Software:
Verfolgen und Umsetzen bereits verändert. (EN) überwinden (EN) Datenloggen – FlexLogger
Vanessa Blumenstein, Andreas Haub, National Instruments PXI TestStand
Norbert Brand, Jamie Smith, National Instruments National Instruments National Instruments
National Instruments
CompactDAQ LabVIEW
National Instruments
CompactRIO LabVIEW Real-Time
Oliver Wachno,
Herausforderungen bei Warum von begabten LabVIEW FPGA
Bürkert Werke GmbH & Co. KG Vergleich in der Anwendung
elektrischen Prüfungen nach Wissenschaftlern geschriebene Neue Herangehensweise
Peter Emmenegger, von cRIO und cRIO mit LabVIEW NXG
LV 124/LV 148 am Beispiel Software häufig furchtbar in der Component Verfication -
Emmenegger Engineering GmbH DIAdem und DataFinder Server – DAQmx am Beispiel eines
von Lidar (EN) ist – und wie sich das mit dem Ein Automatisierungskonzept und mehr
12:00 Highlights der aktuellen Versionen Mikrogravitationsexperimentes
Markus Schram, Konrad GmbH Academic Graduate Program für die Laborumgebung (EN)
Andreea Solomon, Walter Rick, National Instruments im TEXUS-Programm
ändern lässt Thorsten Bucksch, Supported by NI Application Engineers
Ralf Taraschewski, kumkeo GmbH WKS Informatik GmbH Klaudius Pinkawa,
Fabian Wehnekamp, Infineon Technologies
Frank Polziehn, Valeo AMS Software GmbH
National Instruments
12:45 MITTAGESSEN/ BESUCH DER AUSSTELLUNG
Einführung in die Automatisierte Analyse
Automatisierungs-Framework
Anbindung, Montage und Zustandsüberwachung von von Nutzfahrzeug-
für Labormessungen zur Erweiterung Ihrer
Test von Fahrzeugkameras Maschinen mittels Vibrations- Straßendauerlaufdaten Hardware: Software:
Post-Silizium-Verifikation von Messgeräteplattform durch
14:30 für aktive Sicherheitssysteme und Schallmessungen anhand PXI TestStand
Softwaretest – Werkzeuge, Automotive Sensor SoCs (EN) Martin Winkler, die SLSC-Architektur (EN)
Michael Konrad, von praktischen Beispielen
Normen und andere Thomas Thurner, Alexander Magnes, measX GmbH & Co. KG Michael Hutton, National Instruments CompactDAQ LabVIEW
Herausforderungen Konrad Technologies Prof. Georg Eggers,
Infineon Technologies Mathias Harlfinger, Daimler AG CompactRIO LabVIEW Real-Time
Hochschule München
Stefan Kissel, National Instruments LabVIEW FPGA
Peter Bokor, IncQuery LabVIEW NXG
Smarte Systeme vermitteln Vom CAN-Bus bis zur Data
Michael Kollmetz, LTE-V im Test – Ein alternativer Smarte Lösung für Mess- und mehr
(Bachelor) – Smarte Ingenieure Sensortest für ADAS – Management Software Suite
MBDA Deutschland GmbH Kommunikationsstandard für und Prüfanwendungen
für die Industrie Designvalidierung von bei Volkswagen
15:15 V2X- und ADAS-Anwendungen
Prof. Andreas Wendemuth, ASIL-D-Chips Andreas Sokoll, Bosch Rexroth AG Supported by NI Application Engineers
Gerd Schmitz, Holger Müller, müller+krahmer GmbH
Otto-von-Guericke Universität Frank Heidemann, SET GmbH Martin Müller, Querpunkt GmbH
S.E.A. Datentechnik GmbH Carsten Petsch, Volkswagen
Magdeburg
16:00 KAFFEEPAUSE/ BESUCH DER AUSSTELLUNG
Kompetenzentwicklung von
Autonomes Fahren verlangt Automatisierung eines
Studierenden im Rahmen
nach universellen Testlösungen Die nächste Generation Testen in regulierten Umfeldern Funktionsprüfstands für elektrische
der Kooperation zwischen FH
mit einer Skalierung von NF der Analyse dynamischer am Beispiel WLTP Wankstabilisatoren mit NI VeriStand
Joanneum und NXP Austria
16:30 über 5G bis zu 80 GHz Radar Test Signalverläufe Michael Winter, IABG mbH
Thomas Messner, FH Joanneum Jan Jacob,
Continuous Integration – Markus Solbach, Ludwig Mair, Manuel Paukner, Texas Instruments Werum Software & Systems AG Sebastian Bultmann, Hardware: Software:
Noffz Technologies Wolfgang Rominger,
Automatisieren Sie den Test, ZF Friedrichshafen AG
NXP Semiconductor Austria PXI TestStand
die Erstellung und die Verteilung
Ihrer Applikationen CompactDAQ LabVIEW
Lorenz Casper, National Instruments Paneldiskussion: CompactRIO LabVIEW Real-Time
Business Meets Teaching LabVIEW FPGA
Sven Peterson,
S.E.A. Datentechnik GmbH Wolfgang Rominger, LabVIEW NXG
NXP Semiconductor Austria
Jörg Hampel, Effiziente Restbussimulation Weise Worte: Erkenntnisse Kochen mit dem Thermomix und mehr
Hampel Software Engineering Michael Konrad, Benchmarking-Strategien ist einfach – Testen ist es nicht
in komplexen Automotive- aus dem Einsatz des NI
Konrad Technologies in der Automobilindustrie
17:15 Romano Renelt, Denis Grgic, Elektronik-Testprojekten Semiconductor Test Systems Benjamin Tillmann, Supported by NI Application Engineers
NXP Semiconductor Austria Prof. Andreas Wendemuth, in der Produktion (EN) Matthias Salmen, Vorwerk Elektrowerke
Dr. Björn Butting,
Otto-von-Guericke Universität FEV Software and Testing Solutions
MBtech Group GmbH & Co. KGaA Banukumar Murugesan, Tessolve Christian Pastucha, SET GmbH
Magdeburg
Thomas Messner, FH Joanneum
Fabian Wehnekamp, Heiner Illig,
National Instruments
ab 18:00 BESUCH DER AUSSTELLUNG
ab 19:00 ABENDE SSEN/GET-TOGETHER
6 | ni.com/vip ni.com/vip | 7Agenda - Donnerstag, 25. Oktober 2018
09:00 KEYN OTE (STADTSAAL)
10:00 KAFFEEPAUSE/ BESUCH DER AUSSTELLUNG
Skills
Skills Development – Development
Hands-on NI Hardware
Development of Automotive Test & Validation Academic Research Aerospace & Defense Business & Technology Trends Software
and Software
Distributed Applications Engineering -
Workshops
Schnellere Markteinführung
Speckle-Bildgebung in Echtzeit für die
mit optimierten Ansätzen Best Practices für den Entwurf eines Lernen für Leadership 4.0 Hardware: Software:
Neuigkeiten zur NI-Software-Roadmap gesteuerte retinale Photokoagulation
10:30 für Antriebsstrangtests automatisierten Prüfsystems in der Zeitmaschine PXI TestStand
National Instruments von Elektrofahrzeugen Katharina Bliedtner,
National Instruments Marco Schmid, Schmid Elektronik AG CompactDAQ LabVIEW
Medizinisches Laserzentrum Lübeck
Daniel Riedelbauch, National Instruments
CompactRIO LabVIEW Real-Time Evaluieren Sie das NI
Requirements Gateway
LabVIEW FPGA
Norbert Brand,
LabVIEW NXG
Neue Mitarbeiter effizient ins Team National Instruments
Lebensdauertest von Invertern für den „Rotating Detonation Engine“-Prüfstand integrieren – Onboarding für Ingenieure und mehr
Gesetzliche Aspekte der
Antriebsstrang in Elektrofahrzeugen unter auf Basis eines MXI-Express-Chassis – Aerospace-HIL in acht Monaten
11:15 normgerechten Entwicklung Wolfgang Rominger,
Verwendung simulierter Motoren Vom Konzept zur Prüfstandsoftware Frank Heidemann, SET GmbH
Oliver Wachno, Bürkert Werke GmbH & Co. KG NXP Semiconductors Austria Supported by NI Application Engineers
Michael Rost, IRS Systementwicklung GmbH David Holst, Technische Universität Berlin
Lorenz Casper, National Instruments
12:00 MITTAGESSEN/ BESUCH DER AUSSTELLUNG
LabVIEW NXG Web Module: Entwicklung Sensor Fusion in Life Science: High-Performance-Blockchain-
Thermografische Inspektion Hardware: Software:
webbasierter Benutzeroberflächen Entwicklung und Aufbau eines Prüfstands Echtzeitverfolgung biologischer Anwendungen im Energiesektor
von Klebefugen im Flugzeugbau PXI TestStand
13:30 für Fahrzeug-Starter-Generatoren Vorgänge mit Nanometer-Auflösung Andreas Hergesell,
Josef Eiswirt, measX mit LabVIEW (EN) Modellgetriebene
Thomas Mertke, Bertrandt Ingenieurbüro GmbH Frank Mieskes, MetaDAQ, Ingenieurbüro CompactDAQ LabVIEW
Rita Prather, National Instruments Marc Hill, ZeMA Entwicklung in der
Ludwig Maximilians Universität München für innovative Messtechnik CompactRIO LabVIEW Real-Time Praxis – Mit Methodik
LabVIEW FPGA zu nachhaltigem
LabVIEW-Code
LabVIEW NXG
Sie wollen ganz sichergehen? Verwandeln Sie Rald Taraschewski,
Intelligentes Loggen von Signalen GSM-Passiv-Radar mit NI-USRP-RIO- und mehr
NI-Funktionen für das Erstellen verteilter Software in Hardware anschaulich erklärt am Sven Tanneberger,
in der Entwicklung von Komponenten Mehrkanal-Empfangssystem kumkeo GmbH
14:15 webbasierter Anwendungen Beispiel des Neutrinoexperiment KArlsruhe Panel Discussion
für die Elektromobilität Matthias Mandt,
Rita Prather, National Instruments TRItium Neutrino (KATRIN) (EN) Supported by NI Application Engineers
Nils Dornblut, Josef Hiermeier, Innofas GmbH Fraunhofer Institute for Communication
Armen Beglarian, Karlsruhe Institut of Technology
15:00 KAFFEEPAUSE/ BESUCH DER AUSSTELLUNG
Kräfteüberwachung in Magnetspulen Softwaretest – Tools, Normen Wie Machine Learning und künstliche Hardware: Software:
Kommunikationstechnologien im Testen von Batterien für den
eines Fusionsexperiments und andere Herausforderungen Intelligenz traditionelle Prüfstrategien
15:30 Kontext von IIoT und Cloud-Diensten Antriebsstrang in der Fertigung PXI TestStand Live-Demonstration
Alexander Sigalov, Claus-Peter Käsemann, Sven Tanneberger, Ralf Taraschweski, in Frage stellen (EN)
Stefan Kissel, National Instruments Andreas Sokoll, Bosch Rexroth AG von Arbeitsabläufen
Max-Planck-Institut kumkeo GmbH Marcus Monroe, National Instruments CompactDAQ LabVIEW
in einer automatisierten
CompactRIO LabVIEW Real-Time Software-Entwicklung
LabVIEW FPGA sumgebung
LabVIEW NXG Jörg Hampel, Hamppel
Mit der richtigen Prüfstrategie
Die Zukunft des Transportwesens – Modularer Sensoraufbau zur Software Engineering
Migration – Verbesserung durch Veränderung Validierungs-Test von Hochvolt- Produktentwicklung und und mehr
EPFLoop und Swissmetro treiben echtzeitfähigen Bilddatengewinnung Sven Peterson, S.E.A.
16:15 Falk Wurster, Karsten Dallmeyer, Antriebsbatterien für Elektrofahrzeuge Markteinführung beschleunigen (EN)
Hyperloop-Technologie voran (EN) Florian Mühlbauer, Datentechnik GmbH
Vikings Software GmbH Philipp Miska, Berghof Automation GmbH Augusto Mandelli, Robert Lee,
Denis Tudor, EPFLoop MBDA Deutschland GmbH Supported by NI Application Engineers
National Instruments
17:00 ENDE DE R VERANSTALTUNG
8 | ni.com/vip ni.com/vip | 9Rahmenprogramm Ausstellung
MEET THE EXPERTS Im Rahmen des VIP 2018 präsentieren rund 40 Alliance Partner, Produktpartner
Mittwoch | 18:00 – 19:00 Uhr und Systemintegratoren ihre aktuellsten Anwendungen, Lösungen und Produkte.
Treffen Sie Experten von NI sowie erfahrene Anwender und stellen Sie Ihre Fragen. Schauen Sie einfach vorbei und
Informieren Sie sich auf der großzügigen Ausstellungsfläche über die neuesten Entwicklungen und tauschen
lassen Sie den ersten Tag in einer Diskussionsrunde ausklingen. Den genauen Standort der Experten entnehmen Sie
Sie sich mit den Ausstellern über deren Serviceangebote und Lösungsstrategien aus.
bitte dem Lageplan vor Ort.
Von der Erstellung eines einzelnen Produkts über ganze Systeme und deren Integration bis hin zu Beratung und
Training – VIP-Aussteller verfügen über die optimale Kombination von technischer Ausstattung und Know-how,
GET-TOGETHER
um auch anspruchsvolle ingenieurtechnische Herausforderungen zu lösen.
Mittwoch | ab 19:00 Uhr
■■
Mittwoch 9:00 – 20:00 Uhr
Kontakte knüpfen, Gedanken austauschen, Netzwerke pflegen: ■■
Donnerstag 9:00 – 17:00 Uhr
Der Ideenaustausch sowie das Knüpfen von Kontakten stehen im Mittelpunkt des gemütlichen Ausklangs des ersten
Kongresstages. Dieser wird mit einem gemeinsamen Abendessen zu Ende gehen und bietet Ihnen die Möglichkeit zum
ungezwungenen Networking mit Referenten, Ausstellern, NI-Experten und anderen Kongressteilnehmern. In Anschluss DIAMOND AUSSTELLER
daran sind Sie herzlich zur VIP-Party eingeladen um den Kongresstag in entspannter Atmosphäre abzurunden.
AUSSTELLERLISTE (Stand: Juni 2018)
A.M.S. Software GmbH Konrad GmbH
ATX Hardware GmbH West KUNBUS GmbH
Beck-Messtechnik Lenord, Bauer & Co. GmbH
Berghof Automation GmbH MEquadrat AG
Bosch Rexroth AG ODU GmbH & Co. KG
CGS - Computer Gesteuerte Systeme GmbH PCB Synotech GmbH
CISWORKS GmbH & Co. KG ProNES Automation GmbH
esz AG calibration & metrology S.E.A. Datentechnik GmbH
FEV Software and Testing Solutions SET GmbH
Göpel electronic GmbH Sohatex Engineering GmbH & Co KG
Helbling Technik AG SOMA GmbH
INGUN Prüfmittelbau GmbH SYSTEC GmbH
innofas GmbH Virginia Panel Corporation
IPG Automotive GmbH Virinco AS
IRS Systementwicklung GmbH WireFlow AB
ITK Engineering GmbH WKS Informatik GmbH
10 | ni.com/vip ni.com/vip | 11First Prime Number Initialize Array
2 List of prime numbers
VIP2018
FUTUREFASTER number count
Number last number
First Possible Prime Number
3 1st possible prime possible prime number
Anmeldung und Services
PREISE ANMELDUNG
TICKETS Das Anmeldeformular finden Sie online unter ni.com/vip.
24. – 25. Oktober 2018 € 525* | € 600
Die Anmeldungen werden der Reihenfolge
24. Oktober 2018 € 365
nach berücksichtigt.
25. Oktober 2018 € 365
Wir empfehlen Ihnen eine frühzeitige Anmeldung.
GRUPPENTICKET (4 FÜR 3)
HABEN SIE FRAGEN ZUR ANMELDUNG?
24. – 25. Oktober 2018 € 1575* | € 1800
Wir helfen Ihnen gerne weiter. Bitte senden Sie eine
HOCHSCHULTICKET E-Mail an cer.events@ni.com oder rufen Sie uns an
24. – 25. Oktober 2018 € 225 unter Tel. +49 (0) 89 741313-0.
Alle Preise in Euro zzgl. Mehrwertsteuer
* Frühbuchertarif bis einschließlich 12. August 2018
DIE VIP-2018-SERVICES – WIR SIND FÜR SIE DA!
Gruppenticket: Die Teilnehmer müssen der gleichen Firma angehören.
Hochschultarif: Gilt für alle Hochschulangehörigen und Studenten. HOTELS
Empfehlungen und vorab reservierte Kontingente unter:
LEISTUNGEN, KONDITIONEN ni.com/vip.
UND RÜCKTRITTSBEDINGUNGEN BUS-SHUTTLE
Alle Informationen zu enthaltenen Leistungen, ■■
Informationen zu Abfahrtszeiten unserer Shuttle-Busse
Konditionen sowie Rücktrittbedingungen finden finden Sie unter: ni.com/vip
Sie online unter ni.com/vip.
VERANSTALTUNGSORT VERANSTALTER
Veranstaltungsforum Fürstenfeld National Instruments Germany GmbH
Fürstenfeld 12 Ganghoferstraße 70b
82256 Fürstenfeldbruck (bei München) 80339 München
Fuerstenfeld.de Tel.: +49 (0)89 74131310
Fax: +49 (0)89 7146035
info.germany@ni.com
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