FISCHERSCOPE MMS PC2 das universelle Multi-Mess-System zur Schichtdickenmessung und Werkstoffprüfung

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FISCHERSCOPE MMS PC2 das universelle Multi-Mess-System zur Schichtdickenmessung und Werkstoffprüfung
FISCHERSCOPE® MMS® PC2
                  das universelle Multi-Mess-System
                       zur Schichtdickenmessung und Werkstoffprüfung

Schichtdicke   Materialanalyse   Mikrohärte   Werkstoffprüfung
FISCHERSCOPE MMS PC2 das universelle Multi-Mess-System zur Schichtdickenmessung und Werkstoffprüfung
FISCHERSCOPE® MMS® PC2 – das vielseitige Tischmessgerät

    Das FISCHERSCOPE MMS® PC2® ist überall da im Ein-         Schichtdickenmessung
    satz, wo Qualität groß geschrieben wird: im Warenein-     Messung der Schichtdicke bei folgenden Material-
    gang, in der Endkontrolle, in der laufenden Fertigung,    kombinationen:
    für Stichproben- oder Stückprüfungen. Und das in allen    • Fast alle Schichtmaterialien auf Metallen
    Branchen. Durch seine modulare Bauweise lässt sich        • Duplex-Schichtsysteme
    das MMS PC2 speziell an Ihre Bedürfnisse anpassen         • Metallische Schichten auf elektrisch nicht leitenden
    und jederzeit erweitern.                                     Materialien
                                                              • Organische Schichten z.B. Öl- oder Schmierfilme
    Ob Schichtdicke, elektrische Leitfähigkeit oder Ferrit-
    gehalt, mit dem MMS PC2 messen Sie immer präzise          Werkstoffprüfung
    und richtig. MMS PC2 – ein Messgerät für alle Mess‑       • Messung der elektrischen Leitfähigkeit von
    aufgaben.                                                    Nicht­eisenmetallen
                                                              • Prüfung der Güte von Schweißnähten, Ferritgehalt
                                                                 in austenitischen oder Duplexstählen

                                                              Zu Hause in allen Branchen
                                                              • Automotive
                                                              • Elektronikindustrie
                                                              • Lackindustrie
                                                              • Beschichtungstechnologien
                                                              • Gold, Uhren, Schmuck
                                                              • Materialanalyse und Werkstoffprüfung

                                                              Vielfältig im Einsatz
                                                              • Qualitätssicherung in Warenein- und ausgang
                                                              • Stück- oder Stichprobenprüfung in der laufenden
                                                                 ­Produktion
                                                              • Kontinuierliche Fertigungsüberwachung
                                                              • Integrierbar in Qualitätsmanagementsysteme und
                                                                  ­Firmennetzwerke

                                                              Messen mit Hand oder automatisiert
                                                              • Automatisch nach Aufsetzen der Sonde
                                                              • Auf Tastendruck oder per Extern-Start
                                                              • In vordefinierten Zeitintervallen
                                                              • Halbautomatisch mit motorischen Stativ oder
                                                                 ­programmierbaren XY-Messtisch
                                                              • Automatisiert durch SPS-Einheit
                                                              • Automatisiert in Fertigungsanlagen

                                                              Modulare Bauweise
                                                              • Acht Module mit unterschiedlichen Messverfahren
                                                                 für Schichtdicke, Leitfähigkeit und Ferritgehalt
                                                                 stehen zur Auswahl

2                                                                                            FISCHERSCOPE® MMS® PC2
FISCHERSCOPE MMS PC2 das universelle Multi-Mess-System zur Schichtdickenmessung und Werkstoffprüfung
Vielfältige Anwendungen

Messung der Chromschicht auf Kolbenstangen mit der   Messung dünner organischer Schichten, z.B. Öle, mit
Messsonde V2EGA06H im motorischen Stativ             der Handmesssonde Z15NG-TC
                                                     Handmesssonde mit Beta-Strahler für Messungen nach
                                                     der radiometrischen Betarückstreu-Methode, ein integ-
                                                     rierter Temperatursensor dient zur automatischen Kom-
                                                     pensation der Betastrahlendämpfung durch die Luft bei
                                                     unterschiedlichen Temperaturen.

Präzise Messungen an Kleinteilen mit dem
motorischen Stativ V12 MOT
Das FISCHERSCOPE MMS® PC2® steuert automatisch
die Auf- und Abbewegung des Statives und die Mes-
sung.
                                                     Wareneingang
                                                     Messplatz mit mehreren Modulkarten und Sonden zur
                                                     Wareneingangsprüfung, montiert auf einem Transport-
                                                     wagen, zur Messung verschiedener Teile.

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FISCHERSCOPE MMS PC2 das universelle Multi-Mess-System zur Schichtdickenmessung und Werkstoffprüfung
Typische Konfigurationen

    Eloxalmessplatz                                         Messplatz Lacklabor
    Messplatz mit mehreren Sonden zur Prüfung verschie-     Messplatz zur Bestimmung der Schichtdicke von:
    dener Teile mit unterschiedlicher Geometrie, ohne die   • Lackschichten auf Nichteisenmetallen
    Sonden zu wechseln. Durch die Auswahl der Applika-      • Lackschichten auf Eisen oder Stahl
    tion wird automatisch die richtige Sonde aktiviert.     • Duplex-Messungen, d.h. Lack auf Zink auf Eisen
    Messung der Schichtdicke und Leitfähigkeit von elo-        oder Stahl bei gleichzeitiger Messung beider
    xierten Aluminium-Teilen, Ursachensuche bei Farbun-        Schichten
    terschieden.
                                                            Bestückung
    Bestückung                                              • Modul PERMASCOPE® mit Sonde FD13H
    • Modul SIGMASCOPE® mit den Sonden ES40                • Modul PHASCOPE® DUPLEX mit Sonde ESG20
       und ES24 zur Leitfähigkeitsmessung                   • Stativ V12 MOT zum automatischen Scannen
    • Modul PERMASCOPE® mit der Innenmesssonde                lackierter Bleche
       FAI3.3-150 und der krümmungskompensierten
       Sonde FTD3.3 Messung der Eloxal-Schichtdicke         Messplatz Leiterplatte (PCB)
    • Stativ V12 MOT zur halbautomatischen Messung         Messplatz für fast alle Messaufgaben rund um die Lei-
       vieler Teile                                         terplatte. Bei extrem dünnen Schichten empfehlen wir
                                                            Ihnen zusätzlich die Geräte unserer X-RAY-Produktlinie.

                                                            Bestückung
                                                            • Modul SIGMASCOPE®/PHASESCOPE® 2
                                                               mit Sonde ESL080V zur Messung der Cu-Durch­
                                                               kontaktierung
                                                            • Modul SIGMASCOPE®/PHASESCOPE® 1 mit
                                                               Sonde ESD20 Cu zur Messung der Cu-Schichten
                                                               unter ­Lötstopplack
                                                            • Modul SR-SCOPE® mit Sonde ERCU-D10 zur
                                                               Messung der Cu-Schicht auf Multilayern ohne
                                                               Beeinflussung des Messergebnisses durch Kupfer-
                                                               schichten auf Innenlagen
                                                            • Modul PERMASCOPE® mit Sonde FTA3.3-5.6HF
                                                               zur Messung der Lötstopplack- und Schutzlack-
    Galvanikmessplatz                                          schicht auf dünnen Cu-Zwischenschichten und
    Messplatz zur Schichtdickenbestimmung bei unter-           Sonde FKB10-OD zur Messung der Gesamt-Leiter-
    schiedlichen Teileformen, Materialkombinationen und        plattendicke
    Oberflächenbeschaffenheiten, die typisch sind für
    Betriebe der Galvanotechnik. Sogar Messungen auf
    Gewinden und auf rauen Oberflächen sind mit sehr
    hoher Wiederholpräzision möglich.

    Bestückung
    • Modul PERMASCOPE® mit den Sonden
       FGA06H-MC zur Messung auf kleinen Teilen und
       F20H zur Messung auf rauen Oberflächen, Sonde
       V7FKB4 zur Messung von Phosphat-­Schichten
    • Modul SIGMASCOPE®/PHASESCOPE® 1
       mit ­den Sonden ESD20 Zn und ESD2.4 zur
       Messung von Kupfer- oder Zinkschichten auf Stahl-
       und ­Eisengussteilen
    • Stativ V12 MOT oder V12 BASE zur Messung auf
       kleinen Teilen wie Muttern und Schrauben

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FISCHERSCOPE MMS PC2 das universelle Multi-Mess-System zur Schichtdickenmessung und Werkstoffprüfung
Messdaten-Auswertung

Das FISCHERSCOPE MMS PC2 bietet vielfältige Mög-          Einfache Visualisierung der Prozessqualität mit dem
lichkeiten zur Auswertung Ihrer Messergebnisse.           Fertigungs-Diagnose-Diagramm (FDD®)
                                                          Das FISCHERSCOPE MMS PC2 bietet mit dem patentier-
Auswerte- und Statistikfunktionen                         ten Fertigungs-Diagnose-Diagramm (FDD) von FISCHER
• Anzeige wichtiger statistischer Kennwerte wie           eine grafische Auswertemöglichkeit, die auf einen Blick
  Mittelwert, Standardabweichung, Min, Max,               den Prozess visualisiert. Ein leicht zu interpretierendes
  Spannweite                                              Schaubild liefert einen grafischen Gesamtüberblick
• Statistikanzeige der wichtigsten Kennwerte im           über die Verteilung von Fertigungsgrößen, wie z.B. der
  Block- und Endergebnis                                  Schichtdicke. Durch die farbliche Darstellung erhalten
• Grafische Darstellung als Histogramm,                   Sie ohne eigene statistische Berechnungen einfach und
  Summenhäufigkeitsdiagramm, FDD                          schnell Informationen zur Optimierung des Fertigungs-
• Eingabemöglichkeit der Prozesstoleranzgrenzen           prozesses.
  und Berechnung der zugehörigen Prozessfähig-
  keitsindizes cp und cpk

Messwertprotokolle
Zur übersichtlichen Darstellung Ihrer Messergebnisse
können Sie Protokolle erstellen, die die Messwerte und
statistischen Auswertungen übersichtlich darstellen. In
Protokollen können Sie z.B. Ihr Firmenlogo und eine
Skizze des Messobjektes einbinden. In Vorlagen defi-
nieren Sie das Layout und den Inhalt eines Protokolls.
Für jede Anwendung können Sie eine eigene Vorlage
erstellen.

Datenexport
Sie können Ihre Messdaten einfach und schnell expor-      FISCHER DataCenter
tieren. In Vorlagen können Sie definieren, was expor-     Die PC-Software FISCHER DataCenter ist im Lieferum-
tiert werden soll. Für jede Anwendung können Sie eine     fang des FISCHERSCOPE MMS PC2 enthalten. Mit der
andere Vorlage erstellen.                                 DataCenter-Software lassen sich einfach und komforta-
                                                          bel individuelle Berichte generieren und mit eigenen
Mögliche•Formate•                                         Logos, Bildern und Grafiken gestalten. Per Drag-and-
PDF, ASCII, Excel, Q-DAS, HTML                            Drop können Sie beliebig Messwerte, statistische Werte
                                                          und grafische Darstellungen einbinden. Zudem können
                                                          Sie Berichtsvorlagen auf Basis eingescannter Formulare
                                                          erstellen.

                                                                                                                      5
FISCHERSCOPE MMS PC2 das universelle Multi-Mess-System zur Schichtdickenmessung und Werkstoffprüfung
Anpassungsfähig durch modularen Aufbau

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                                           COM1      LAN          USB   USB    MULTIFUNCTION    EXT.
                                                                        (PC)                   START

    100 verschiedene Anwendungen – acht Einbauplätze
    und mehr als 60 Sonden                                              Merkmale
    Durch seine modulare Bauweise passt das MMS PC2                      
                                                                          Schichtdickenmessung und Werkstoffprüfung mit
    immer zu Ihren Anwendungen. Ausgehend von Ihrer                       nur einem Instrument
    Messaufgabe bestücken wir für Sie das Messgerät mit                  
                                                                          Robustes und sehr vielseitiges Tischgerät als
    den passenden Modulkarten und Sonden.                                 multifunktionsfähiges Messsystem mit
                                                                          Datenarchivierung und Messdatenverarbeitung
    Acht verschiedene Modulkarten                                        
                                                                          Benutzerfreundliches Arbeiten mit einem großen,
    Die Messung der physikalischen Größen Schichtdicke,                   hochauflösenden LCD Touchscreen und
    elektrische Leitfähigkeit und Ferritgehalt erfordern unter-           Windows® CE
    schiedliche Messverfahren. Bei der Schichtdickenmes-                 
                                                                          Benutzeroberfläche in viele europäische und
    sung kommen je nach Schicht-Grundwerkstoff-Kombi-                     asiatische Sprachen umschaltbar
    nation wiederum unterschiedliche Messverfahren zum
    Einsatz. Um diese breite Palette abzudecken, haben                  Auswertung und Datenexport
    wir für das MMS PC2 acht verschiedene Modulkarten                    
                                                                          Statistikfunktionen zur Auswertung der Mess-
    entwickelt.                                                           werte: Summenhäufigkeitsdiagramm, Histo-
                                                                          gramm und Fertigungs-Diagnose-Diagramm
    Veränderte Anforderungen                                              (FDD)
    Sie können das MMS PC2 jederzeit mit weiteren Modul-                 
                                                                          Verschiedene grafische Messwertdarstellungen
    karten und Sonden aufrüsten.                                          zur schnellen Übersicht des Produktionsverlaufs
                                                                          und der Produktqualität
    Schnittstellen                                                       
                                                                          Kundenspezifische Protokollierung der Mess-
    • LAN-Netzwerkanschluss                                              daten
    • 5 USB-Anschlüsse für PC, Drucker usw.                             
                                                                          Export der Ergebnisprotokolle und der Mess-
    • RS232-Schnittstelle für den Anschluss von                          werte in verschiedenen Datenformaten zur
       Messstativ, XY-Messtisch, digitale Messmittel oder                 Auswertung in externen Statistikprogrammen
       Funkschnittstelle                                                 
                                                                          Lieferung mit PC-Software FISCHER DataCenter
    • Multifunktionsanschluss, z.B. für den Anschluss von                mit folgenden Funktionen: Übertragung und
       Signallampen zur Meldung von Toleranzgrenzen-                      Archivierung von Messwerten, umfangreiche
       überschreitungen                                                   statistische und grafische Auswertemöglich-
    • Optional: Anschluss für SPS-Integration                            keiten, einfache Erstellung und Ausdruck indivi-
                                                                          dueller Prüfberichte

6                                                                                                      FISCHERSCOPE® MMS® PC2
FISCHERSCOPE MMS PC2 das universelle Multi-Mess-System zur Schichtdickenmessung und Werkstoffprüfung
Technische Daten

Hardwarekonzeption                                                    Bildschirm
Gehäuse mit 8 Steckplätzen für Modulkarten mit verschiedenen          Großes, hochauflösendes Farb-Display mit Touchscreenfunktion.
Messverfahren                                                         170 mm x 130 mm (B x H) mit 800 x 600 px
Messverfahren                                                         Messwertübernahme
•• Magnetisches Verfahren (DIN EN ISO 2178)                           •• automatisch nach Aufsetzen der Sonde
•• Magnetinduktives Verfahren (DIN EN ISO 2178,                       •• durch Extern-Start
   ASTM D7091)                                                        •• im Freilaufmodus auf Tastendruck
•• Amplitudensensitives Wirbelstromverfahren                          •• getaktet in gewählten Zeitintervallen entweder nach Aufsetzen
   (DIN EN ISO 2360, ASTM D7091)                                         der Sonde oder nach Extern-Start
•• Phasensensitives Wirbelstromverfahren (DIN EN ISO 21968)           Auswertung
•• Mikro-Widerstand-Verfahren (DIN EN 14571)                          Statistische Auswertung von Messreihen mit Mittelwert, Standard-
•• Betarückstreu-Verfahren (DIN EN ISO 3543, ASTM B567a)              abweichung, Variationskoeffizient, Größt- und Kleinstwert, An-
Messgrößen                                                            zahl der Messwerte, Einzel- und Blockstatistik; Berechnung der
Schichtdicke, elektrische Leitfähigkeit, Ferritgehalt, Temperatur     Prozessfähigkeitsfaktoren Cp und Cpk; Histogramm, Summenhäu-
Messsonden                                                            figkeitsnetz mit Parametern der Verteilungsform, FDD, Auswer-
Anschlussbuchsen an den Modulkarten für alle FISCHER-Sonden,          tung von Blockgruppen, gefiltert nach Blockbezeichnungen
gleichzeitiger Anschluss von max. 8 Messsonden                        Abmessungen (B x H x T)
Software                                                              360 mm x 170 mm x 270 mm
•• Windows® CE basierte Programmsoftware                              Gewicht (voll bestückt)
•• Software in europäischen und asiatischen Sprachen verfüg-          ca. 5 kg
   bar: Deutsch, Englisch, Französisch, Italienisch, Spanisch,        Umgebungstemperatur
   Tschechisch, Polnisch, Türkisch, Chinesisch und Japanisch          +10 °C ... +40 °C
•• Eingaben über Touchscreen, PC-Maus oder PC-Tastatur (USB)          Anschlüsse (Standard)
•• Sicherung von Applikationen, Sperrung des Zugriffs auf             •• 1 x COM1 – RS232-Schnittstelle
   Programmfunktionen zur Vermeidung von Fehlbedienungen,             •• 1 x LAN Netzwerkanschluss
   Grenzwertüberwachung, Ausreißerkontrolle, Kalibrierung,            •• 4 x USB Anschlüsse für PC-Tastatur, PC-Maus, Drucker
   Blockbildung                                                       •• 1 x USB Anschluss für PC-Verbindung
Messwertspeicherung                                                   •• Multifunktionsanschluss mit Signalisationsausgängen für
Das Gerät speichert Messwerte in Applikations-Dateien. Zusätz-           Grenzwertüber- und Unterschreitungen, Extern-Start
lich wird in diesen Dateien folgendes gespeichert: Alle Einstellun-   •• Klinkenbuchse für den Anschluss z.B. eines Tasters für die
gen, Informationen zu den Messwertblöcken, Datum, Uhrzeit und            externe Auslösung der Messwertaufnahme
Kalibrierdaten.                                                       •• Spannungsversorgung: über Netzadapter 12V/1.2 A
•• Standard-Modus: Messwerte werden in aufeinanderfolgenden           Anschließbare Drucker
   Blöcken in der Applikation gespeichert. Automatische Block-        Drucker mit USB-Anschluss (2.0 kompatibel), die über eine der
   bildung nach vorgegebenen n Einzelmesswerten. Automati-            folgenden Druckersprachenemulationen verfügt: PCL, ESC/P
   sche Berechnung des Mittelwertes                                   Dokumentation
•• Matrix-Modus: Messwerte werden in Blöcken gespeichert, die         •• Ausdruck in Protokollvorlagen von Einzelmesswerten, Block-
   in der Applikation matrixförmig angelegt sind. Blockwechsel           und Endergebnissen, Toleranzgrenzen. Ausdruck von
   manuell in beliebigen Block oder automatisch in vorgegebe-            SPC-Karten, Histogramm, Summenhäufigkeitsnetz und FDD
   ner Reihenfolge                                                    •• Protokollgestaltung mit kundenbezogenen Angaben. Beliebige
Mehrkanalmessung                                                         Anzahl von Protokollen im Gerät speicherbar
Messwerte von bis zu 8 Messsonden werden parallel in einer            Datenspeicherung
Applikation angezeigt und gespeichert                                 •• im internen Gerätespeicher mit 256 MB Speicherplatz
Messwertdarstellung                                                   •• auf externem USB-Stick
•• Zahlendarstellung: Auflistung der Messwerte mit Großzahlen-        •• im Netzwerk
   darstellung des letzten Einzelmesswertes                           Datenexport
•• oleranzgrenzendarstellung: Grafische Darstellung der Mess-         •• On- oder offline-Ausgabe der Messwerte über die
   werte innerhalb vorgegebener Grenzwerte                               USB-Schnittstelle an einen PC
•• SPC-Karte: Regelkartendarstellung als x/R- oder x/s-Karte          •• On- oder offline-Ausgabe der Messwerte über die
•• Einfachanzeige: Zahlendarstellung des letzten Messwertes              RS232-Schnittstelle an einen PC
•• Wählbare Maßeinheit für Messgröße                                  •• Export von Ergebnisprotokollen als Textdateien, ASCII-Dateien
   –– Schichtdicke: metrisch oder imperial                               für den Import in Exceltabellen, im Q-DAS- oder HTML-Format
   –– Ferrit: Fe% oder WRC-FN
   –– el. Leitfähigkeit: % IACS oder MS/m
   –– Temperatur: °C oder °F
   –– freie Definition einer weiteren Maßeinheit, z.B. g/m2
•• Wählbare Auflösung der Messwertanzeige

                                                                                                                                         7
FISCHERSCOPE MMS PC2 das universelle Multi-Mess-System zur Schichtdickenmessung und Werkstoffprüfung
Modulkarten/Anwendungsbereiche

    Je nach Anwendung bestücken Sie Ihr FISCHERSCOPE® MMS® PC2 mit den folgenden Modulen.

    Anwendungen                                                                                     Modulkarten                                              Messmethode

                                                                                               SIGMASCOPE® /

                                                                                               SIGMASCOPE® /

                                                                                                                  NICKELSCOPE®
                                                                    PERMASCOPE®

                                                                                               PHASCOPE® 1

                                                                                               PHASCOPE® 2

                                                                                                                                             TEMPERATUR
                                                                                  BETASCOPE®

                                                                                               PHASCOPE®

                                                                                                                                 SR-SCOPE®
                                                                                               DUPLEX
    Schichtdickenmessung – Elektromagnetische Messmethoden

                                                                                                                                                              Wirbelstrom-
    Elektrisch nicht leitende Schichten auf Nichteisenmetallen       P                                     P                                                 Messmethode
                                                                                                                                                           DIN EN ISO 2360

    Elektrisch nicht leitende Schichten auf ferromagnetischen                                                                                               Magnetinduktive
                                                                     P                                                                                       Messmethode
    Grundwerkstoffen (Stahl oder Eisen)                                                                                                                    DIN EN ISO 2178

                                                                                                                                                            Magnetinduktive
                                                                                                                                                             Messmethode
    Duplex-Schichten im schweren Korossionsschutz                                                                                                          DIN EN ISO 2178
                                                                     P                                                                                        Wirbelstrom-
    (Zinkdicken ≥ 70 µm)
                                                                                                                                                             Messmethode
                                                                                                                                                           DIN EN ISO 2360
                                                                                                                                                           Magnetinduktive
                                                                                                                                                             Messmethode
    Korrosionsschutzschichten                                                                                                                             DIN EN ISO 2178
                                                                                                           P                                                Phasensensitive
    (Zinkdicken ca. 5 – 20 µm)
                                                                                                                                                          Wirbelstrommethode
                                                                                                                                                          DIN EN ISO 21968

    Schichten aus Cu, Zn, Ni auf ferromagnetischen Grundwerk-
                                                                                                P
    stoffen (Stahl oder Eisen)

    Metallschichten mit hoher elektrischer Leitfähigkeit auf
                                                                                                P
    Grundwerkstoffen niedriger Leitfähigkeit (z.B. Cu/Ms)
                                                                                                                                                            Phasensensitive
                                                                                                                                                          Wirbelstrommethode
                                                                                                                                                          DIN EN ISO 21968
    Einzeldicken eines Lack/Zink- Schichtsystems (Duplex-Schicht)
                                                                                                           P
    auf Feinblechen in einem Messvorgang (Zinkdicken 5 – 20 µm)

    Kupfer auf Leiterplattenmaterial (Cu/Iso)                                                   P

                                                                                                                                                            Phasensensitive
    Kupferschichten in Leiterplattenbohrungen                                                       P                                                     Wirbelstrommethode
                                                                                                                                                          DIN EN ISO 21968

    Galvanische Nickelschichten auf Nichteisenmetallen oder
                                                                                                                    P
    elektrisch nicht leitendem Grundwerkstoff
                                                                                                                                                          Magnetische Methode
                                                                                                                                                           (DIN EN ISO 2178)
    Nicht magnetisierbare dicke Schichten im mm-Bereich (Cu, Al,
                                                                                                                    P
    Pb) auf ferromagnetischen Grundwerkstoffen (Stahl oder Eisen)

    Kupferschichtdicke auf Laminaten oder Multilayern, ohne jeden                                                                                             Elektrische
                                                                                                                                  P           P           Widerstandsmethode
    Einfluss darunter liegender Kupferschichten                                                                                                             DIN EN 14571

          Grundwerkstoff Nichteisenmetalle
          Grundwerkstoff Leiterplattenmaterial
          Ferromagnetische Grundwerkstoffe
          Nichteisenmetalle und elektrisch nicht leitende Grundwerkstoffe

8                                                                                                                                                  FISCHERSCOPE® MMS® PC2
FISCHERSCOPE MMS PC2 das universelle Multi-Mess-System zur Schichtdickenmessung und Werkstoffprüfung
Anwendungen                                                                                      Modulkarten                                                  Messmethode

                                                                                            SIGMASCOPE® /

                                                                                            SIGMASCOPE® /

                                                                                                               NICKELSCOPE®
                                                                 PERMASCOPE®

                                                                                            PHASCOPE® 1

                                                                                            PHASCOPE® 2
                                                                                            PHASCOPE® /

                                                                                                                                             TEMPERATUR
                                                                               BETASCOPE®

                                                                                                                              SR-SCOPE
                                                                                            DUPLEX
Leitfähigkeitsmessung

                                                                                                                                                             Phasensensitive
Elektrischen Leitfähigkeit von Nichteisenmetallen                                            P                                                             Wirbelstrommethode
                                                                                                                                                           DIN EN ISO 21968

Ferritgehaltsmessung

                                                                                                                                                             magnetinduktive
Ferritgehalts in austenitischen und Duplex-Stählen                P                                                                                             Methode
                                                                                                                                                            DIN EN ISO 2178

Temperaturmessung

                                                                                                                                                           Temperaturerfassung
Temperaturmessung mit dem Temperaturfühler TF100 A                                                                                                        mit einem Pt100-Sensor,
                                                                                                                                              P                 Messbereich
(Temperaturfühler mit Pt100-Sensor)
                                                                                                                                                            -20 ºC bis +80 ºC

Schichtdickenmessung – Betarückstreu-Methode

Kunststoff- oder Metallschichten                                                P                                                             P
                                                                                                                                                             Betarückstreu-
                                                                                                                                                               Methode
                                                                                                                                                           DIN EN ISO 3543,
                                                                                                                                                          ASTM B567, BS 5411
Öl- oder Wachsschichten auf Metallen                                            P                                                             P

Dickenkontrolle von Folien, Bestimmung der Gleichmäßigkeit                                                                                                    Betarückstreu-
                                                                                P                                                                               Methode
von Tüchern und Geweben

Messbereiche der Beta-Strahler

                        Strahler                        Pm-147                                   TI-204                         Sr-90                               C-14

        Schicht                    Grundwerkstoff                                                   Messbereiche in µm

      Ag, Rh, Pd                     Cu, Ni, Fe        1,2 – 4,0                              5,5 – 22                        15 – 70                                 –
          Al                         Cu, Ni, Fe         4,5 – 20                              25 – 100                        90 – 400                                –
          Au                         Cu, Ni, Fe        0,5 – 2,0                              2,5 – 10                        5,5 – 35                                –
          Cd                         Cu, Ni, Fe        1,5 – 5,0                              7,0 – 30                        15 – 70                                 –
          Cr                             Al            2,0 – 8,0                              8,0 – 30                                   –                            –
    SnPb (60/40)                     Cu, Ni, Fe         1,1 – 4,5                             5,0 – 28                        10 – 80                                 –
        Ni, Cu                        Ag, Mo           1,5 – 5,0                              9,0 – 30                        20 – 100                                –
          Sn                         Cu, Ni, Fe        1,8 – 5,5                              7,5 – 35                        15 – 100                                –
          Zn                           Fe, Al          2,0 – 6,5                              4,0 – 30                                   –                            –
         Lack                        Ni, Cu, Al         11 – 40                               50 – 200                        80 – 800                             3 – 11
    Öl, Schmierfilm       Cu, Ni, Fe, Al, Mo, Ag, Au         –                                     –                                     –                         1 – 11

                                                                                                                                                                                    9
FISCHERSCOPE MMS PC2 das universelle Multi-Mess-System zur Schichtdickenmessung und Werkstoffprüfung
Messmethoden

     Phasensensitives Wirbelstrom-Messmethode                    Mikro-Widerstand-Messmethode
     Norm: DIN EN ISO 21968                                      Norm: DIN EN 14571

        Wirbelströme
                                                                                         Stromquelle

                                                                                                       U = f(d)
                                                                                   I                                        I

                                                                   Cu-Schicht d
                                                                   Epoxi-Basismaterial

      Kaschierung und                      galv. abgeschiedene
       Zwischenlagen                           Cu-Schichten

     Funktionsprinzip                                            Funktionsprinzip
     Das in der Sonde erzeugte hochfrequente Magnetfeld          Mit 4 Elektroden berührt die Sonde die Messobjekt­-
     induziert in der Kupferhülse Wirbelströme, deren Ma-        oberfläche. Durch die äußeren beiden Elektroden wird
     gnetfeld das primäre Magnetfeld schwächt. Je dicker         ein Strom in die Schicht eingespeist. Die Cu-Schicht
     die Kupferhülse ist, um so stärker fällt diese Schwä-       zwischen den beiden inneren Elektroden wirkt als
     chung aus. Dass sich die induzierten Wirbelströme im        elektrischer Widerstand, an dem der Spannungsab-
     Wesentlichen nur in der Längsachse der Kupferhülse          fall gemessen wird. Dieser ist umgekehrt proportional
     ausbilden, wird durch eine spezielle, patentierte, Son-     der Dicke der Cu-Schicht. Das Messsignal wird im
     denausführung erreicht.                                     Messgerät über die Sondenkennlinie, dem funktionalen
                                                                 Zusammenhang zwischen Sondensignal und Schicht­
     Hauptanwendunsgebreiche                                     dicke, in den Schichtdickenwert umgewandelt. Die el.
     • Elektro- und Elektronikindustrie                         Leitfähigkeit der Cu-Schicht ist temperaturabhängig,
     • Leiterplattenfertigung                                   was unter Umständen eine Temperaturkompensation
                                                                 notwendig macht.
     Passende Modultypen
     SIGMASCOPE®/PHASCOPE® 2                                     Hauptanwendunsgebreiche
                                                                 • Elektro- und Elektronikindustrie
                                                                 • Leiterplattenfertigung
       Hinweis
       Dieses Dokument beschreibtnicht alle Mess-                Passende Modultypen
       methoden. In der Broschüre „Sonden zur Schicht-           SR-SCOPE®
       dickenmessung“ finden Sie Beschreibungen für
       die folgenden Messmethoden:
        
         Magnetinduktive Messmethode
        
         Wirbelstrom-Messmethode
        
         Magnetische Messmethode
        
         Duplex-Messungen

10                                                                                                                FISCHERSCOPE® MMS® PC2
Betarückstreu-Messmethode                                               Betatransmissionsmethode
Norm: DIN EN ISO 3543, ASTM B567a                                       Norm: DIN EN ISO 3543, ASTM B567a

               Messsignal zum                    Strahlungsdetektor
                MMS® PC2                        (Geiger-Müller-Röhre)

                                                                                                 Strahlungsdetektor
                                                                                                (Geiger-Müller-Röhre)
                                                                             dünner Werkstoff
                                                                                (Absorber)

                                                                                 d
   rückgestreute Betateilchen            Betastrahler
      (Sekundärstrahlung)             (Primärstrahlung)
                                                                                                                                   Isotop
                                                                           Betateilchen

                                                                                                                            Messtisch-
                                                                                                                            gehäuse

                                                                                                                        Isotopenhalter
                                            Juwelring® Blende
      Schichtdicke d

                                                                        Funktionsprinzip
                                                                        Analog dem Betarückstreu-Messverfahren sendet eine
                                                                        Isotopenquelle Betastrahlen (Elektronen) aus, die von
                                                                        der Geiger-Müller-Zählröhre erfasst werden. Bringt
          Grundwerkstoff
                                                                        man nun einen dünnen Werkstoff, z.B. eine Folie oder
                                                                        ein Gewebe, in den Strahlengang, wird ein Teil der
Funktionsprinzip                                                        Strahlung vom Werkstoff absorbiert. Die Anzahl der
Eine Isotopenquelle sendet Betastrahlen (Elektronen)                    durchgelassenen Elektronen werden von der Geiger-
aus. Diese dringen in die Oberfläche des beschich-                      Müller-Zählröhre gezählt. Im Vergleich mit einem Refe-
teten Werkstücks ein und treten in Wechselwirkung                       renzteil sind so Änderungen der Flächenmasse bzw.
mit den Atomen des Schicht- und Grundwerkstoffes.                       Schichtdicke messtechnisch erfassbar.
Der Mess-effekt besteht in der Anzahl der rückgestreu-
ten Elektronen, die mit einer Geiger-Müller-Zählröhre                   Hauptanwendunsgebreiche
erfasst werden. Die Schichtdicke lässt sich mit diesem                  • Dickenkontrolle von Folien
Verfahren bestimmen, wenn sich die Ordnungszahlen                       • Bestimmung der Gleichmäßigkeit von Tüchern
Z des Schicht- und Grundwerkstoffes um mindestens                          und Geweben
Z = 5 unterscheiden.                                                    • Druckindustrie

Hauptanwendunsgebreiche                                                 Passende Modultypen
• Leiterplatten- und Elektronikindustrie                               BETASCOPE®
• Automobilindustrie
• Konsumgüterindustrie

Passende Modultypen
BETASCOPE®

                                                                                                                                            11
Zubehör

     Stativ V12 BASE                                         Stativ V12 MOT
     Stativ mit manueller Sondenabsenkung. Das Stativ        Stativ mit motorischer Sondenabsenkung für höchste
     besitzt eine spezielle Hebelmechanik, die die Absenk-   Wiederholpräzision. Steuerung direkt am Stativ oder
     geschwindigkeit kurz vor dem Aufsetzen abbremst,        über das Messgerät FISCHERSCOPE MMS PC2. Die
     wodurch die Sonde sanft auf die Prüfteiloberfläche      Teach-In-Funktion gewährleistet ein sanftes Aufsetzen
     aufsetzt.                                               der Sonde auf die Prüfteiloberfläche.

     Schraubenmessvorrichtung                                Tubenmessplatz TM85
     Zur präziesen Messung von Beschichtungsdicken auf       Zur Messung der Lackschichtdicke am Innen- oder
     metallischen Verbindungselementen.                      Außenmantel von Aluminiumtuben und -dosen.

                                                             Kolbenringmesstisch V4EKB4
                                                             Zur Messung von z.B. Chromschichten auf Kolben oder
                                                             Ölabstreifringen.

12                                                                                         FISCHERSCOPE® MMS® PC2
Zubehör BETASCOPE®

Universalmesstisch Z6NG und Ergänzungsbausatz             Handmesssonde Z15NG
Für Kleinteile mit Andruckvorrichtung.                    Zur Messung dünner Schichten (z.B. Öl- und Schmier-
                                                          filmen), auch auf zylindrischen Teilen.

Messtisch Z14NG                                           Handmesssonde Z9NG
Zur Schichtdickenmessung auf Kleinteilen mit Universal-   Zur Schichtdickenmessung auf z.B. Armaturen, Leiter-
andruckvorrichtung.                                       platten, Blechen usw.

Winkelmesssonde Z11NG mit Messstativ V12
Zur Schichtdickenmessung in Hülsen, Rohren, Lager-
schalen usw. ab 32 mm Durchmesser.

                                                          Innenlochsonde Z3NG
                                                          zur Messung in Bohrungen.
                                                          Aufsetzsonde Z3NG-A
                                                          zur Messung auf sehr kleinen Messflächen.

                                                                                                                 13
Bestellinformationen

     Messgerät FISCHERSCOPE® MMS® PC2                                                                   Steckplätze   Bestell-Nummer

     FISCHERSCOPE® MMS® PC2 Grundeinheit
     mit LAN, USB, RS232- und Multifunktionsanschluss, Windows® CE basierter Programmsoftware,
     Netzadapter (220 Vac/12 Vdc), Software FISCHER DataCenter und PC-Datex                               8 freie       604-355

     Eine Beschreibung der Modulkarten/Anwendungsbereiche finden Sie auf Seite 8

                                                                                 anschließbare          notwendige
     Modulkarten
                                                                               Sonden/Messtische        Steckplätze

     Modulkarte F-MODUL PERMASCOPE®
     zur Aufrüstung einer FISCHERSCOPE MMS PC2 Grundeinheit für
                                                                         alle magnetindukt. F-Sonden
     die Schichtdickenmessung nach magnetinduktiver und Wirbelstrom-
                                                                          alle Wirbelstrom-F-Sonden
     Methode, inkl. Anschlussbuchse für Messsonden mit robustem,                                            1           604-293
                                                                      alle Dualsonden (FD13H, FDX13H)
     10-poligem Stecker (vom Typ "F"). Für den Anschluss der E-Sonden
                                                                           alle FGAB1.3*Fe-Sonden
     bestellen Sie die Modulkarte PERMASCOPE® MMS® PC,
     Bestell-Nummer 603-382

     Modulkarte NICKELSCOPE®
     für die Schichtdickenmessung nach dem magnetischen                      Sonden des Typs EN3            1           603-383
     Messverfahren

     Modulkarte BETASCOPE®
                                                                            Z6NG, Z9NG, Z11NG
     für die Schichtdickenmessung nach dem Betarückstreu-                                                   2           603-384
                                                                           mit allen Strahlern, Z15NG
     Messverfahren

     Modulkarte SR-SCOPE®
                                                                                   ERCU D10
     für die Kupferdickenmessung auf Leiterplatten nach dem                                                 1           603-385
                                                                                    ERCU N
     elektrischen Mikro-Widerstand-Messverfahren

     Modulkarte SIGMASCOPE®/PHASCOPE®1                                       ESD20Zn (Zn/Fe; Cu/Fe)
     für die Messung der Schicktdicke und der elektrischen Leitfähigkeit   ESD20Cu, ESD20Ni, ESD2.4
                                                                                                            2           603-592
     nach dem phasensensitiven Wirbelstrom-Messverfahren.                        ES40, ES40HF
     Messfrequenzen: 60, 120, 240, 480 und 1250 kHz                               ES20, ES24
     Modulkarte SIGMASCOPE®/PHASCOPE®2
     für Messungen der Kupferdicke in Leiterplattenbohrungen.                      ESL080B
                                                                                                           1 (3)        603-625
     Modulkarte arbeitet nur in Verbindung mit der Modulkarte                      ESL080V
     SIGMASCOPE®/PHASCOPE®1
     Modulkarte PHASCOPE® DUPLEX
     für die Schichtdickenmessung nach dem magnetinduktiven
                                                                                    ESG20                   1           603-730
     Messverfahren, amplitudensensitiven und phasensensitiven
     Wirbelstrom-Messverfahren
     Modulkarte TEMPERATURE
     für die Temperaturmessung mit dem Temperaturfühler TF100A
                                                                            Temperaturfühler TF100A         1           603-390
     in Verbindung mit den Modulkarten BETASCOPE® MMS® PC
     und SR-SCOPE® MMS® PC

     DIGITALES I/O-Modul
     Schnittstellenmodul für MMS PC2, für SPS, galvanisch getrennt,                                         1           604-426
     Pegel 24 V

14                                                                                                         FISCHERSCOPE® MMS® PC2
Zubehör allgemein                                                                                                                             Bestell-Nummer

Messstativ V12 BASE                                                                                                                             604-420

Messstativ V12 MOT; vom MMS PC2 aus steuerbares Messstativ für motorische Sondenbewegung                                                         604-374

USB-Anschluss-Kabel für Drucker und Messstativ V12 MOT                                                                                          603-398

Interfacekabel ActiveSync; für den Datenaustausch über die RS232-Schnittstelle zwischen MMS PC2
                                                                                                                                                603-396
und einem PC

Interfacekabel LAN RJ45; für die Anbindung des MMS PC2 an ein Netzwerk                                                                           603-397

Interfacekabel LAN RJ45 gekreuzt; für die Anbindung des MMS PC2 an einen PC mit LAN-Anschluss
                                                                                         ®
                                                                                                                                                603-400

Fußtaster; zur externen Auslösung der Messwerterfassung. Anschluss an den Extern-Start-Anschluss des
                                                                                                                                                 600-152
MMS PC2

Ersatzteile

Soft Pencil MMS PC2                                                                                                                              603-857

Steckernetzteil MMS PC2 100 – 240 V                                                                                                             603-480

Sonden

Gerne unterstützen wir Sie, die passende Sonde für Ihre Messaufgabe aus unserem umfangreichen
Sondenprogramm auszuwählen

Zubehör Modulkarte BETASCOPE®

Universal-Messtisch Z6NG*                                                                                                                        602-261

Messtisch Z14NG*                                                                                                                                602-250

Handmesssonde Z9NG*                                                                                                                             600-460

Winkelmesssonde Z11NG*                                                                                                                           600-471

Handmesssonde Z15NG; nur passend für Beta-Strahler C-14                                                                                          602-789

Innenlochsonde Z3NG                                                                                                                             600-456

Aufsetzsonde Z3NG-A                                                                                                                             600-458

Ergänzungsbausatz für Universal-Messtisch Z6NG                                                                                                   602-371

Adapter Beta 32 mm; Adapter für Messtisch Z6NG zur Aufnahme von Strahler und Blendring                                                          600-550

Zentriervorrichtung für Handmesssonde Z9NG                                                                                                       600-461
* Gewünschten Beta-Strahler aus nachfolgender Tabelle auswählen

Strahler für Beta-Sonden und -Messtische
Nachfolgend sind alle standardmäßig verfügbaren Strahler aufgeführt. Weitere Blendringe sowie Sonderausführungen auf Anfrage

Bezeichnung                                  Blendringöffnung                                Energie                           Halbwertzeit

                                                  ø 0,63 mm                                                                                     600-488
PM-147                                                                                    0,22 MeV                             2,65 Jahre
                                               0,63 x 1,2 mm                                                                                    600-489

                                                  ø 0,63 mm                                                                                     600-490
TI-204                                                                                    0,76 MeV                             3,65 Jahre
                                               0,63 x 1,2 mm                                                                                     600-491

SR-90                                              ø 1,6 mm                              2,27 MeV                               28 Jahre        600-492

C-14                                               ø 20 mm                               0,156 MeV                             5680 Jahre       600-493

                                                                                                                                                               15
FISCHER weltweit

               Helmut Fischer GmbH                                      Helmut Fischer AG und
               Institut für Elektronik und Messtechnik                  Helmut Fischer Technologie AG
               71069 Sindelfingen, Germany                              CH-6331 Hünenberg, Switzerland
                                                                                                                      ISO 17025
                                                                                                                     SCS 0136, STS 0591

               IfG-Institute for Scientific Instruments GmbH            Fischer Instrumentation Electronique
               12489 Berlin, Germany                                    78180 Montigny le Bretonneux, France

               Fischer Instrumentation (GB) Ltd                         Helmut Fischer S.R.L.
               Lymington, Hampshire SO41 8JD, England                   20099 Sesto San Giovanni (Milano), Italy

               Fischer Technology, Inc.                                 Fischer Instruments, S.A.
               Windsor, CT 06095, USA                                   08018 Barcelona, Spain

               Helmut Fischer S. de R.L. de C.V.                        Helmut Fischer Meettechniek B.V.
               76230 Querétaro, QRO, Mexico                             5627 GB Eindhoven, The Netherlands

                                                                        Fischer do Brasil
                                                                        04561-001 São Paulo, Brazil

                                                                        Fischer Instrumentation (Taiwan) Ltd
                                                                        Taipei City 11493, Taiwan

                                                                        Fischer Instruments K.K.
                                                                        Saitama-ken 340-0012, Japan

                                                                        Nantong Fischer Instrumentation Ltd
                                                                        Shanghai 200333, P.R. China

                                                                        Fischer Instrumentation (Far East) Ltd
                                                                        Kwai Chung, N.T., Hong Kong

                                                                        Fischer Measurement Technologies (India) Pvt. Ltd
                                                                        Pune 411036, India

                                                                        Fischer Instrumentation (S) Pte Ltd
                                                                        Singapore 658065, Singapore

                                                                        Helmut Fischer Korea Co., Ltd
                                                                        Seoul City, Republic of Korea

                                                                        Fischer Technology (M) SDN Bhd
                                                                                                                                          12-14

                                                                        47301 Petaling Jaya, Malaysia

                                                                        Helmut Fischer Thailand Co., Ltd
                                                                        Bangkok 10250, Thailand

                                                                        Fischer Instruments Middle East FZE
                                                                        P.O.Box Dubai 371100, United Arab Emirates
                                                                                                                                          12/14
                                                                                                                                          901-102

                                                                                www.helmut-fischer.com

Schichtdicke      Materialanalyse     Mikrohärte     Werkstoffprüfung
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